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摘要
(s8b?Ol/ X [Y0r 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 5es t IjI'Hx K EAXDF 4o>y9 建模任务 C'R9Nn' ^ h=QpH =v2|QuS$
<2U#U; qS?o22 准直系统 >$q ^*.[b s'HsLe0| *%xbn8 非序列追迹 %=**cvVy )uqzu%T
O|Uz)Y94 /x3*oO1 总结—元件… "'4 :7e*- ' $;v! ,> n%E,[JT
(MGgr JFv70rBe 系统光线追迹结果 fPeS; Vr2A7kq qbyYNlXqm zgD?e?yPO 完美的减反射(AR)涂层 u(vZOf]jL CR4O#f8\ ^ ` LqNG K0w}l" )A 有内部反射 wFMH\a I`_2Q:r
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