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摘要 LZpqv~av ;#2yF34gv 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 3}?]G8iL?L k5Df97\s WGMEZx /9u12R*< 建模任务 fH
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[tz}H& x_KJCU 准直系统 ?F%,d{^ "M:0lUy 7NfA)$ k'{Bhi4 非序列追迹 .\ces2, t'Pn*
M,9f}V) w`K=J!5y2g 总结—元件… FAd4p9[Y 5F|oNI}$: u"1Zv! 64-;| k4F
+dSO?Y] 4] I7t 系统光线追迹结果 _QOZ`st ZC:7N{a T|Fl$is 5XA{<)$ 完美的减反射(AR)涂层 zH+a*R r(cd?sL96R /aD3E"Op LYyOcb[x 有内部反射 N(^
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