切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 737阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6794
    光币
    28119
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 LZpqv~av  
    ;#2yF34gv  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    3}?]G8iL?L  
    k5Df9 7\s  
    W GMEZx  
    /9u12R*<  
    建模任务 fH 5/  
    _AVP1  
    n ^C"v6X  
    [tz}H&  
    x_KJCU  
    准直系统 ?F%,d{^  
    "M:0lUy  
    7N fA)$  
    k'{Bhi4  
    序列追迹 .\ces2,  
    t'Pn*  
    M,9f}V)  
    w`K=J!5y2g  
    总结—元件 FAd4p9[Y  
    5F|oNI}$:  
    u"1Zv!  
    64-;| k4F  
    +dSO?Y]  
    4] I7t  
    系统光线追迹结果 _QOZ`st  
    ZC:7N{a  
    T|Fl$is  
    5XA{<)$  
    完美的减反射(AR)涂层 zH+a*R  
    r(cd?sL96R  
    /aD3E"Op  
    LYyOcb[x  
    有内部反射 N(^ q%eHp  
    jAb R[QR1%  
    4brKAqg.  
     
    分享到