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摘要 `h='FJ/! Wxa</n8S[n 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 71G\b|5 w=kW~gg @M!nAQ8hY iq<nuO 建模任务 bY}:!aR<mK |Ng}ZLBM &\e8c
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qZYh^\ =^mBj?(V7 准直系统 a St:G*a" 1 Szv4 @ n^2UJ 1T0s
UIY 非序列追迹 dhV6r B3Da w/G
_g%,/y 9y v~:'t\n 总结—元件… s|D[_N!| ",pd 9 #'8'5b cv"Bhql
`]4tJJy$ Y*0j/91 系统光线追迹结果 N)
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JnPwqIF1 IVso/! @*=eqO 完美的减反射(AR)涂层 ,SH^L|I {r?+PQQ# .TO#\!KBv _Lgi5B% 有内部反射 i|!W;2KL5 KZ 4G"
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