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摘要 Nz %{T dt%waM! 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 z-<U5-' )>abB?RZ AX!YB'm- tEh YQZ 建模任务 a/Z >- R`sU5 :n ,g\%P5
%9B r AC:cV=' 准直系统 pVbgjJI B/u0^! aUUr&yf_L ASME~]]? 非序列追迹 6fV%[.RR 7) aitDD
bAS('R;4 6Tjj++b(* 总结—元件… uSh!A <J" 7ufHSQ w],+l N; DdJ>1504
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@Uzo
MR:GH.uM:
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