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摘要 C@UJOB X@h^T> ["
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台，以便在系统制造之前研究系统的性能，以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一，杂散光可能有多个来源，其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中，我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在，我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散)，并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 QC\g%MVG rMXOwkE  ghJ,s|lH d[>N6?JA/ 建模任务 ReB(T7Vk= gSv[4,hXd  b!^M}s6
 B=Zukg1G 9OQ0Yc!3 准直系统 ZXsY-5$#d- XEUa  yjOu]K:X
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 FUzMc1zy| Dc&9emKI 总结—元件… az \<sWb# )ZgER[  IB# iJ# ,
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 J2oWssw" *b6I%MZn 系统光线追迹结果 ~3'OiIw1@ >Tl W]st  O7'<I|aD ; Oi[:Ck 完美的减反射(AR)涂层 |Uy e>%*}4 Ha=_ u+@  u6 iU[5 n ,&/D 有内部反射
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