x/fhlf}a}= 时间地点 *&vlfH 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek)
<<=.;`(/v 苏州黉论教育咨询有限公司(微信公众号:honglun-seminary)
Y9/`w@"v 授课时间:2024年11月27(三)-29日(五) 共3天 AM 9:00-PM 16:00
G?M<B~} 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
o5@d1A 课程讲师:讯技光电高级工程师
@Ojbu@A 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
; Sd== * ~hZr1hT6L 课程简介 =.`:jZG 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该
望远镜系统仿真。
~GLWhe-
A'tv[Td8, 课程大纲 .9u0WP95 1. 杂散光介绍与术语
9xN` 1.1 杂散光路径
*g*~+B
: 1.2 关键面和
照明面
n2(`O^yd7C 1.3杂光内部和外部杂散光
Ia[4P8Z 2. 基本辐射度量学-辐射
2/iBk'd 2.1 BSDF及其散射模型
]+k]Gbty6 2.2 TIS总散射概念
"X(9.6$_ 2.3 PST(点源透射比)
!b"2]Qv 3. 杂散光分析中的
光线追迹
pJ3-f k"i 3.1 FRED软件光线追迹介绍
4wkmgS
3.2构建杂散光模型
oO3X>y{gN • 定义光学和机械几何
Ueu~803~ • 定义光学属性
qOTo p- 3.3 光线追迹
!gm@QO cF • 使用光线追迹来量化收敛速度
d4m@u$^1B • 重点采样
x
MFo • 反向光线追迹
dHkI9; • 控制光线Ancestry以增加收敛速度
{.j030Q • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
BMo2t'L • 使用GPU来进行追迹
1)H;}%[ • RAM内存使用设置
.T1n"TfsGO 4.散射模型
uhm3}mWv 4.1来自表面粗糙的散射
N}ugI`: • 低频、中频、高频
pkE4"M!3= • RMS粗糙度与BSDF的关系
P8X59^cJ • 由PSD推导BSDF
@iU(4eX • 拟合BSDF测量数据
DC~ 1}|B" 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
lt("yqBu 4.3 来自颗粒污染的散射
nh]HEG0CZJ • 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
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