[培训]杂散光分析与控制技术-线下课程 [复制链接]

.eR1\IAm  
时间地点 Nmj)TOEPW  
主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司（微信公众号：infotek） zuV%`n  
苏州黉论教育咨询有限公司（微信公众号：honglun-seminary）  :\\NK/"  
授课时间：2024年11月27（三）-29日（五） 共3天 AM 9:00-PM 16:00 0O9b 7F  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 ;=Ma+d#  
课程讲师：讯技光电高级工程师 s-$Wc)l  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) H<(F$7Q!\  
/MGapmqV9  
课程简介 {^WK#$]  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统，具体突出红外热辐射和冷反射计算，在以往的方法中我们通过计算点列图来实现，但存在诸多的缺陷，如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点，我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 fF(2bVKP:  
l88=  
课程大纲 hOY@vm&  
1. 杂散光介绍与术语 @C)s4{V  
1.1 杂散光路径 C/e.BXA  
1.2 关键面和照明面 UK ':%LeL  
1.3杂光内部和外部杂散光 V\cbIx(Z^  
2. 基本辐射度量学-辐射 r5}p .  
2.1 BSDF及其散射模型 BJj'91B[d  
2.2 TIS总散射概念 ~_
\Ra%  
2.3 PST(点源透射比) L ;L:  
3. 杂散光分析中的光线追迹 YThVG0I =  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 x>yqEdR=o  
3.2构建杂散光模型 (?jK|_  
• 定义光学和机械几何 h>/teHy /  
• 定义光学属性 r&{8/ 5"  
3.3 光线追迹 k=]e7~!  
• 使用光线追迹来量化收敛速度 (
Q*q#U  
• 重点采样 >jW
**F  
• 反向光线追迹 \'m7un  
• 控制光线Ancestry以增加收敛速度 xMJ-=  
• 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 >Xn,jMUW  
• 使用GPU来进行追迹 ,:?ibE=  
• RAM内存使用设置 5pCicwea#  
4.散射模型 -9b=-K.y  
4.1来自表面粗糙的散射 _3`GZeGV  
• 低频、中频、高频 4uXGpsL  
• RMS粗糙度与BSDF的关系 X+4Uh I  
• 由PSD推导BSDF kR<sSLEb  
• 拟合BSDF测量数据 gP%<<yl  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 !j6k]BgZ  
4.3 来自颗粒污染的散射 TO6F  
• 来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） Y&6jFT_  
• 颗粒密度函数模型 QVT0.GzR  
• 案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 '12m4quO  
4.4 来自黑处理表面的散射 q8{Bx03m6  
xV> .]  
4.5 孔径衍射 [k7(t|Q{  
• 杂散光程序中的孔径衍射 O*u   
• 衍射元件的衍射特性 Et0gPX-  
• 案例：衍射杂散光分析 S5).\1m h[  
5. 大气湍流散射 q[U pP`Z%  
6 热辐射 V%R]jbHZ#  
• 红外热辐射的杂散光分析 6tH}&#K  
• 冷反射仿真 +6WjOcu  
7. 鬼像反射 f#s6 'g  
• 鬼像反射 7ys' [G|}r  
• 表面镀膜 Ku[q#_7  
• 表面镀AR增透膜的仿真 [G_ ;78  
8. 光学设计中的杂散光控制 fzJiW@-T  
8.1使用视场光阑 H:G``Vq;0m  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 z 0?MeH#  
8.3使用眩光光阑（Lyot stop） +3))G  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 MHpGG00,  
8.5 使用滤光 `{#"
"I^_  
9. 挡板和冷窗的设计 =v3o)lU  
9.1主挡板和冷屏的设计 T!x/^  
9.2 挡光环的设计 @1j*\gYz  
• 槽型挡光环 )u(,.O[cw  
• 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 b'O/u."O  
• 案例：望眼镜系统的挡板的优化 JAxzXAsAR  
10. BSDF散射测量