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光学测量＞显微 iC
gZ3M] =}^NyLE ? 任务/系统视图 Q` ua9oIJ= I"07x'Ahq3  ' wND _R4}\3}! 亮点 A6N6e\ *
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Gm=qn]c 显微镜系统中光栅的全矢量分析 *o6}>; 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 ^ X =Q{nB 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 WRh5v8Wz0 R 'Sd'pSDN 说明：光源 IC `3%^ /WrB>w  K:PH: e RJrz ~,}  Pob X; Z m|a9T#B( 说明：透镜系统 O\5%IfB'" bjZJP\6  l& :EKh 说明：样品结构 ;FPx =
tv70d'  i]JTKL{\q m5\T, 说明：探测器 V>@ [\N[ *$tXm4
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 6#=jF[ H?$dnwR 结果：3D光线追迹 %go2tv:|W LU1I
`E  ,+=9Rp`md *}? [tR5  Dd3f@b[WX =~D? K9o 结果：光线追迹 zp: dArh0 >p_W(u@ z$  H;Wrcf2
!`69.v 结果：光线追迹衍射级数 E$ d #4x /]0q I  YEL0h0gn nL@'??I1 结果：场追迹采样平面 uYJS=NGNA @ CprC]X  MK&,2>m,A Y]z
:^D 结果：场追迹焦平面 j-<]O OD y Zaf q"o  VtBC~?2U)B ?OD$`{1 结果：减小光栅周期 PmR].Ohzi
v 6 ~9)\!j 随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 q+g,?;Yx ~q$]iwwqT
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