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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 q]ER_]%Gna  
    ryg1o=1v/  
    任务/系统说明 PV<=wc^  
    ? suNA  
    B\G?dmo  
    p'M5]G  
    亮点 4p\<b8(9>  
    Mk Er|w'  
    ) wtVFG  
    7Ps I'1v  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; u%3D{Dj  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 }1VxMx@  
    ,]+P#eXgE  
    具体要求:光源 ~ODm?k  
    *NHBwXg+  
    S='AA_jnw  
    L0H;y6&  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 w7 @fiH{  
    ;}"_hLX  
    .$pW?C 3e  
    @KfFt R-;  
    RB`Emp&T  
    ]r8t^bqe  
    YBqu7&  
    W ZdEfY{  
    具体要求:分束器 :vZ8n6J[  
    kv{uf$X*ve  
    ^x-vOG lR  
    &MKG#Y}  
    具体要求:参考光路反射镜 %{ WZ  
    /n;Ll](ri  
    KJ M :-z@  
    F67%xz0  
    #}*w &y  
    /T1z z2l~  
    具体要求:测试光路反射镜 ^}7iouE C  
    \n$s5i-  
    #-*7<wN   
    $N4%I4  
    具体要求:探测器 &/R`\(hEA  
    RZ 4xR  
    ;43Ye ^=  
    $8zsqd 4?  
    结果:3D光线追迹 g S xK9P  
    Vz[E)(QX-`  
    WJ":BK{NM  
    0goKiPx  
    结果:场追迹  O_^O1  
    9c9F C  
    \i_y(;  
    f'P}]_3(  
    结果:移动样品的场追迹结果 E]$YM5  
    '?7th>pC  
    DID&fj9m  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 l,AK  
     
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