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光学测量 > 干涉测量 "c1vW<; 3)__b:7J 任务/系统说明 0v+5&Jk t~,!a? S7
P8z++h B~LB^
n(>@ 亮点 }5zH3MPQH )<-kS
pZ OVD% SYa!IL-B •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; `'+[Y;s_ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 2$\Du9+ w}oH]jVKL6 具体要求:光源 RrKs!2sCT
tGv4 S\ yd`.Rb&V kw}J~f2 具体要求:用于准直的消色差透镜 QP[w{T Kax85)9u ;Q?
Qwda (fY (- O_KL#xo |/YT.c% nyTfTn 'rq
[P", 具体要求:分束器 YI&^j2 t6s#19g *<s|WLMG T9N /;3 具体要求:参考光路反射镜 Y~fds#y0 /v=MGX@r Gi ZyC )6IO)P/Q~
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9\j3J{ 具体要求:测试光路反射镜 [ V/*{Z ~{RXc+ g^4'42UX a|lcOU 具体要求:探测器 b@z/6y! RzFv``g %k5^n0|* O62H4oT 结果:3D光线追迹 1Cp5a2{ NR^z!+oSR BWfsk/lej |V%Qp5 XJ 结果:场追迹 9q;+ Al^Z 56d,Sk)
qmv%N K7U` 结果:移动样品的场追迹结果 |jO&qT]{ 3dQV5E. vfcj,1 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 V!a\:%#^Y
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