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光学测量 > 干涉测量 q]ER_]%Gna ryg1o=1v/ 任务/系统说明 PV<=wc^ ?suNA
B\G?dmo p'M5]G 亮点 4p\<b8(9> MkEr|w'
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wtVFG 7Ps I'1v •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; u%3D{Dj •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; }1VxMx@ ,]+P#eXgE 具体要求:光源 ~ODm?k *NHBwXg+ S='AA_jnw L0H;y6& 具体要求:用于准直的消色差透镜 w7@fiH{ ;}"_hLX .$pW?C 3e @KfFtR-; RB`Emp&T ]r8t^bqe YBqu7& W ZdEfY{ 具体要求:分束器 :vZ8n6J[ kv{uf$X*ve ^x-vOGlR &MKG#Y} 具体要求:参考光路反射镜 %{WZ /n;Ll](ri KJ M:-z@ F67%xz0
#}*w &y /T1zz2l~ 具体要求:测试光路反射镜 ^}7iouE C \n$s5i- #-*7<wN $N4%I4 具体要求:探测器 &/R`\(hEA RZ 4xR ;43Ye
^= $8zsqd 4? 结果:3D光线追迹 g S xK9P Vz[E)(QX-`
WJ":BK{NM 0goKiPx 结果:场追迹 O_^O1 9c9FC
\i_y(; f'P}]_3( 结果:移动样品的场追迹结果 E]$YM5 '?7th>pC DID&fj9m 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 l,AK
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