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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 "c1vW<;  
    3)__b:7J  
    任务/系统说明 0v+5&Jk  
    t~,!a?S7  
    P8z+ +h  
    B~LB^ n(>@  
    亮点 }5zH3MPQH  
    )<-kS  
    pZ OVD%  
    SYa!IL-B  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; `'+[Y;s_  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 2$\Du9+  
    w}oH]jVKL6  
    具体要求:光源 RrKs!2sCT  
    tGv4 S\  
    yd`.Rb&V  
    kw}J~f2  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 QP[w{T  
    Kax85)9u  
    ;Q? Qwda  
    (fY(-  
    O_KL#xo  
    |/YT.c%  
    nyTfTn  
    'rq [P",  
    具体要求:分束器 YI&^j2  
    t6s#19g  
    *<s|WLMG  
    T9N /;3  
    具体要求:参考光路反射镜 Y~fds#y0  
    /v=MGX@r  
    Gi Zy C  
    )6IO)P/Q~  
    $+:_>n^#/  
    Jr 9\j3J{  
    具体要求:测试光路反射镜 [ V/*{Z  
    ~{RXc+  
    g^4'42UX  
    a|lcOU  
    具体要求:探测器 b@z/6y!  
    RzFv``g  
    %k5^n0|*  
    O62H4oT  
    结果:3D光线追迹 1Cp5a2{  
    NR^z!+oSR  
    BWfsk/lej  
    |V%Qp5 XJ  
    结果:场追迹 9q;+ Al^Z  
    56d,Sk)  
    qmv%N  
     K7 U`  
    结果:移动样品的场追迹结果 |jO&qT]{  
    3dQV5E.  
    vfcj,1  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 V!a\:%#^Y  
     
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