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光学测量 > 干涉测量 FFT h}>> p;S<WJv k 任务/系统说明 3{mu 7 7
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R@=Bk(h 亮点 *$ZLu jy7
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qg;[~JZYKi •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； #ii,GN~N •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； *@'\4OO
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/e 具体要求：光源
1* _wJ 0K -jF5i$`  :/H fMJ ^-3R+U- S 具体要求：用于准直的消色差透镜 w5I
+5/I z6tH2Wxf QI@!QU$K&  +DwyMzeE Sm 2 |I6 "{0
o"k  tqY) &H!#jh\w 具体要求：分束器 *g$egipfF :@6,|2b e=  '-F
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neGCMKtzlJ 具体要求：参考光路反射镜 $I%75IZ u$c)B<.UR  #D"fCVIS
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 z.f~wAT@<
8=^o2& 具体要求：测试光路反射镜 X0X!:gX A &i
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!=(~e':Gv 具体要求：探测器 {0fQ"))" cGw* edgp6  pU`4bT(w% 28L3"c 结果：3D光线追迹 Cc:m~e6r c43" o  ~%9 ofXy :%Dw3IrOM 结果：场追迹 t
7D2k2x9 NJb5HoYZ
 fL7ym,?
irNGURLm 结果：移动样品的场追迹结果 DiF=<} >x ' vO+,-  %=J<WA6\ 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 W! FmC$Kc
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