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光学测量 > 干涉测量 G8ksm2 } b cy(
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?FRQ!R •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； uyDYS •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Q WWoj[d#
?G>#'T[ 具体要求：光源 V7
dAB,: J "dp?i  BA+:}81&<q 3kBpH7h4 具体要求：用于准直的消色差透镜 3` aJ"qQE 7OOod1 C'$}!p70  y:zo/#34 X@ 7K#@5 hrr ;=q$  , w/f :-y 6uH1dsD 具体要求：分束器 4c_F>Jw[ @tLoU%  ,`JXBI~
t(:6S$6{e 具体要求：参考光路反射镜 fKY1=3 d#eHX|+  !OJSQB,
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4l?98 具体要求：探测器 \[+\JWJj s
`r tr  nA] dQ+5sT /m;w ~ -N 结果：3D光线追迹 EN%Xs578 []Z| *+=Q  e-o s0F DOWUnJ;5 结果：场追迹 >P=xzg79
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'}5}wCLA 结果：移动样品的场追迹结果 Sg<''pUh z~oGd,  Iq\sf-1E 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 t@/r1u|iq
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