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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 Q~@8t"P  
    ;&!dD6N  
    任务/系统说明 W_ 6Jl5]  
    (;j7 {(  
    UA8!?r-cR  
    =0)^![y]v  
    亮点 u=l(W(9=  
    kxmS   
    L,D>E  
    Ii,:+o%  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; $"FdS,*qKl  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 \;6F-0  
    +i>q;=~  
    具体要求:光源 $~YuS_sYg  
    =@w:   
    []]3"n  
    c'B"Onu@m*  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 2$o[  
    JJ~?ON.H  
    E&+ ^H on  
    0l=}v%D  
    >" .qFn g  
    XJzXxhk2  
    DsX>xzM  
    }m H>lN  
    具体要求:分束器 YzZF^q^I  
    WNb$2q=  
    W =zG  
    ger<JSL%  
    具体要求:参考光路反射镜 xB(:d'1|  
    }SV3PdE  
    `"H?nf0  
    ]1&9~TL  
    zFtGc  
    QC4T=E]` j  
    具体要求:测试光路反射镜 /=@vG Vp6  
    JLu0;XVK  
    Wn^^Q5U#  
    ]K7  64}  
    具体要求:探测器 PBL^xlg  
    #& wgsGV8C  
    OkZ!ZS h  
    5 DB>zou   
    结果:3D光线追迹 17cW8\  
    q&E5[/VK:  
    ?i~/gjp  
    Y/0O9}hf  
    结果:场追迹 A E&n^vdQW  
    3@] a#>  
    h`]/3Ma*:  
    3~</lAm;  
    结果:移动样品的场追迹结果 V@:=}*E  
    XQOprIJ U  
    ^,K.)s  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 AfN   
     
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