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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 eq(|%]a=  
    n!ea)+^  
    任务/系统说明 G?<L{J2"Q  
    Hu1w/PLq  
    : b $ M  
    e}(. u1  
    亮点 ?rk3oa-  
    9} eIidwK  
    :M1+[FT  
    >J.a, !  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 9oKRu6]D-  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 h+R}O9BD  
    " &p\pR~  
    具体要求:光源 43,- t_jV  
    _YmY y\g  
    rya4sxCh  
    nFw&vR/q  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 K 2LLuS!  
    B&-;w_K  
    v@Otp  
    A5ktbj&gy<  
    VF<{Qx*  
    I".d>]16|  
    0:v7X)St  
    ?uk|x!Ko]  
    具体要求:分束器 YjvqU /[3  
    |+suGqo  
    hYb!RRGn  
    bnB}VRal  
    具体要求:参考光路反射镜 q^(A6W  
    D dt9`j  
    d!Y,i!l!  
    ~uzu*7U  
    @^k$`W;  
    NawnC!~ $  
    具体要求:测试光路反射镜 \<T6+3p  
    J@!Sf7k42  
    *5*d8;@>  
    `\e@O#,^yI  
    具体要求:探测器 2=["jP!B  
    Ev*HH+:b>  
    T(J&v|FK  
    W5J"#^kdF8  
    结果:3D光线追迹 *AZC{jP  
    =qI JXV  
    "=P@x|I  
    #FTXy>W  
    结果:场追迹 k3S**&i!CR  
    ^hY<avi6s  
    ]=@>;yP)  
    s49 AF  
    结果:移动样品的场追迹结果 M ;\K+,  
    `4\H'p  
    ]E[Mv} =  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 h %MPppCEa  
     
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