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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 839IRM@'5  
    P  '>SmQ  
    任务/系统说明 |kvC H<F'  
    FFH_d <q  
    F^5?\  
    :L1dyVA{  
    亮点 6q]5Es<  
    IZ =Mlu  
    i 2sN3it  
    *r=:y{!Yd  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; xZQg'IT  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 9uer(}WKT  
    h~p>re  
    具体要求:光源 9(5Oe H6o?  
    #%D_Y33;  
    wmTq` XH)  
    (d<4"!  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 ;[W"mlM  
    )E,\H@A  
    RheRe  
    T[sDVkCbxf  
    Pp| *J^U 4  
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    3nu^l'WQ  
    qWx][D"  
    具体要求:分束器 @EDs~ lPv  
    RgGyoZ  
    qqu.EE  
    s.x&LG  
    具体要求:参考光路反射镜 ~,BIf+ \XF  
    +{/*z  
    sp ]zbX?  
    K,e w>U  
    S=nP[s  
    cP}KU5j  
    具体要求:测试光路反射镜 vk?skN@  
    4lM8\Lr  
    j8n4fv-)f  
    gCN$}  
    具体要求:探测器 Vm df8[5  
    T<L^N+<,{N  
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    ^kgBa27  
    结果:3D光线追迹 GHHav12][  
    +]|Z%;im  
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    r)1'ePI"  
    结果:场追迹 %uoQ9lD'  
    0k'e:AjP  
    OKP9CLg9  
    VL/|tL>E^  
    结果:移动样品的场追迹结果 >(<ytnt=  
    6}(J6T46M[  
    !TP@- X;  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 E!Zx#XP1  
     
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