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光学测量 > 干涉测量 Q~@8t"P ;&!dD6N 任务/系统说明 W_
6Jl5] (;j7{(
UA8!?r-cR =0)^![y]v 亮点 u=l(W(9= kxmS
L,D>E Ii,:+o% •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; $"FdS,*qKl •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; \;6F-0 +i>q;=~ 具体要求:光源 $~YuS_sYg =@w:
[]]3"n c'B"Onu@m* 具体要求:用于准直的消色差透镜 2$o[ JJ~?ON.H E&+^H
on 0l=}v%D >" .qFn g XJzXxhk2 DsX>xzM }m H>lN 具体要求:分束器 YzZF^q^I WNb$2q= W =zG ger<JSL% 具体要求:参考光路反射镜 xB(:d'1| }SV3PdE `"H?nf0 ]1&9~TL
zFtGc QC4T=E]`j 具体要求:测试光路反射镜 /=@vG Vp6 JLu0;XVK Wn^^Q5U# ]K7 64} 具体要求:探测器
PBL^xlg #& wgsGV8C OkZ! ZS
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结果:3D光线追迹 17cW8\
q&E5[/VK: ?i~/gjp
Y/0O9}hf 结果:场追迹 AE&n^vdQW 3@] a#>
h`]/3Ma*: 3~</lAm; 结果:移动样品的场追迹结果 V@:=}*E XQOprIJ
U ^,K.)s 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 AfN
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