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光学测量 > 干涉测量 B!>hHQ2
UBj"m< 任务/系统说明 o*\Fj}l- <$ H-/~Y
W7R`})F /EW1& 亮点 -SF*DZ @Kl'0>U
st91rV$y? Ze?(N~ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; >St]MS •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; <G+IbUG: Ml bQLtw 具体要求:光源 o3=2`BvJ c-?2>%;(V qKL:#ny 1$A7BP 具体要求:用于准直的消色差透镜 tN-U,6c] NG)Xk[q4 ^seb8o7 M.*3qWM -Y?C1DbKz fWutB5?P 5(+9(
\x zG"*B_l}+ 具体要求:分束器 Ug2^cgL KUR9vo J~"h&>T PPj_NV 具体要求:参考光路反射镜 _T8o] #YEOY# 0vi)my;! # Vq"Cf
#RN"Ul-B| xoT|fgb 具体要求:测试光路反射镜 0\/cTNN y,YK Mc bOvMXj/HV= ?H30 具体要求:探测器 -JMlk:~ EKr#i}(x< I4Y;9Gg y?r:`n 结果:3D光线追迹 <aScA`\B# K4.GAGd JsDugn ,B BZdryk:S 结果:场追迹 >U%:Nfo3 2A,iY}R
+DpiX&^h s\Zp/-Q 结果:移动样品的场追迹结果 0QakFt M@wQ6ow ){_D 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 *
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