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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 {0,b[  
    ]N 9N][n  
    任务/系统说明 8i',~[  
    (_ G>dP_  
    S<7!<]F-  
    P*KIk~J  
    亮点 b-ss^UL  
    7(}'jZ  
    -Cyo2wk  
    xX-r<:'tmi  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; }U8v ~wcd  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 LDQ,SS,  
     26p[x'W  
    具体要求:光源 dFBFXy  
    0`"oR3JY  
    SnG(/1C8  
    PA'&]piPl:  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 e,|gr"$/  
    o8X_uKEI  
    \-yI dKj  
    rfk{$g  
    x3i}IC  
    =mXC,<]  
    Y\9}LgIvr  
    u\Cf@}5(  
    具体要求:分束器 Xf4~e(O  
    e*Wk;D&  
    D% jGK  
    L2>e@p\>  
    具体要求:参考光路反射镜 S]fu M%  
    $z[S0Cm  
    U;W9`JT<.f  
    Q0(6n8i  
    t+a.,$U  
    Mz&/.A  
    具体要求:测试光路反射镜 8xENzTR  
    :.5l  
    KRL.TLgq)  
    =p_*lC%N  
    具体要求:探测器 -gvfz&Lz  
    :|n[zjK/S  
    9)7$UQY  
    LWCFCkx%  
    结果:3D光线追迹 :EOai%i  
    TR3U<:  
    Zp)=l Td  
    s|WwB T  
    结果:场追迹 Dnd; N/9  
    ]L~NYe9  
    @ZU$W9g  
    `rVru= zoy  
    结果:移动样品的场追迹结果 5TJd9:\Af  
    estiS  
    by<@\n2B:U  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 l$&~(YE f  
     
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