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光学测量 > 干涉测量 NYg& 8 s. c2 :, 任务/系统说明 >$CNR*}@
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;g+fY 6 亮点 !blG c$kC
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;O~FiA~` c •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Q h Rj*, •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； N.]~%)K:{
aL;zN%Tw 具体要求：光源 b5jD /X4 9{S$%D  "d~<{(:N^ 7.2 !g}E 具体要求：用于准直的消色差透镜 IQ~Anp^R 1 B&XM^>/
&,Loq r  vZS/? pU~~ ?/hS 1yD; uX{g4#eG  Yh"9,Z&wiR =x(k)RTDu 具体要求：分束器 vmfFR (M{wkQTO  }7{( o-
:nqDX 具体要求：参考光路反射镜 Y Kp@ n8A G\k & s F  +9t{ovF?L
eL)m(
 [ 4IqHe
Y4,p_6aKJ] 具体要求：测试光路反射镜 CV {ZoY JW2f 6!b  "la0@/n
GuL0:, 具体要求：探测器 ;BWWafZ 9aIv|cS?  ^Df qc- ] D( TfW 结果：3D光线追迹 0N4ZV}s,d ~fcC+"7q/  MOB'rPIUI #jj (S\WY 结果：场追迹 lSd tw b M
0G`P1o
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VRY@}>W' 结果：移动样品的场追迹结果 hmb=_W km
lb,P  +[S< "}ls7 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 =R9 ` to|
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