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光学测量 > 干涉测量 (sPZ1Fr\o q=6M3OnS> 任务/系统说明 Y#rao:I ;>YJ}:r"\
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@$nL1 亮点 46$5f?Z ,':?3| $c
cZHlW|$R GadD*psD2 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; KWd]?e) •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; Xf Y]qQP ]i{-@Ven 具体要求:光源 #&$4tTl *VL-b8'A< LdRLKE<'e EJN}$|*Av 具体要求:用于准直的消色差透镜 aA\v
uS<&$JH okfhd{9 .Z9Bbab: ON!1lS 0]5QX/I r_Xk: A2htD!3 具体要求:分束器 MF>?! ! ;[%AeN5W cp]\<p('A V<(cW'zA/ 具体要求:参考光路反射镜 rw58bkh6 :5p`H RD,`D! wl}Q|4rZ
+AXui|mn 6$`8y,TMSt 具体要求:测试光路反射镜 .`iOWCS @0+@.&Z O-q [#P ~kF^0-JZY 具体要求:探测器 VYik#n>|Gp 7!z0)Ai_>= JrS|Ib)6 8*6U4R 结果:3D光线追迹 Z+FJ cvYx /2WGo- UG 9uNgzQ/ 1;S@XC> 结果:场追迹 7oK!!Qd^w jIg]?4bW[
>'7Icx REc69Y.k 结果:移动样品的场追迹结果 AvH^9zEE( 4Bs '5@ Jro) 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 PkMN@JS
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