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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 8j8FQ!M  
    Xa+ u>1"2"  
    任务/系统说明 )x#^fN~ 7`  
    y&B~UeB:q  
    v2dCna\  
     WG< D+P  
    亮点 C 2FewsRz  
    r\a9<nZ{  
    ]M>mwnt+  
     k_$w+Q  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Hb IRE  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； 7 zK%CJ  
     <T<?7SE+  
    具体要求：光源 H<g- Bhv  
    b=.Ikt+y  
    8D)2/$NsY}  
    Id|38   
    具体要求：用于准直的消色差透镜 9 *Q/3|   
    IC37f[Q  
    r6QNs1f~.  
    _=8x?fC:rl  
    |h@'~c  
    3\G&fb|?}R  
    @~xNax&^  
    ^HQg$}=  
    具体要求：分束器 mRFcZ.7  
    1]m]b4]  
    h )fi9  
     {088j?[hzk  
    具体要求：参考光路反射镜 do C8!  
    Mo0+"`   
    MW6d-  
    aB+Ux< -  
    %5NfF65'  
     ZFY t[:  
    具体要求：测试光路反射镜 CUaI66  
    k7W7S`H  
    &U*=D8!0  
     3u3(BY{"\F  
    具体要求：探测器 he;&KzEu  
    e@F9'z4  
     =6Ihk  
    ,?P@ :S<8  
    结果：3D光线追迹 1Y_Cd  
    ehPrxIyC  
    ;3-5U&Axt  
    ]=m '| 0}  
    结果：场追迹 Yw vX SA  
    Wf +j/RxTi  
    mvyqCOp 0  
     D4?5 %s  
    结果：移动样品的场追迹结果 pZ}4'GnZI  
    }1f@>'o  
    BC=U6>`/  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 ri<E[8\  
     
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