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光学测量 > 干涉测量 qQjd@J}^ c(W s3 任务/系统说明
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jKr\mb 亮点 4N6JK S
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|2ImitN0 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； sbv2*fno5 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； sU Er?T Z
Yo%p h%e 具体要求：光源 <qGxkV
qofD@\-  ba-4V8w bo S= 具体要求：用于准直的消色差透镜 aAKwC01? }fO+b5U G+7#!y Y  KE[!{O^(a "hi d3"G *'w?j)}A9g  _=Z?5{7S > *Xcqnu(' 具体要求：分束器 OEw#;l4 C ] M`%@ps  8+i=u" <
w)N~u% 具体要求：参考光路反射镜 gFpub_ .Ht;xq  hsB3 zqotF
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CY~ S{w 具体要求：测试光路反射镜 +Tt.5>N R1$s1@3I|  s
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@A tJO >w 具体要求：探测器 kx?f, ^ - BItH0r7  7Q^p|;~a A!cY!aQ 结果：3D光线追迹 av&~A+b .r 6l' J!4*qY  dd=ca0c7e ? ;VsA>PV 结果：场追迹 iG PrWe@. H +' 6*akV
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1 etT." 结果：移动样品的场追迹结果 AL !ppi ,eGguNA9  cJerYRjsL 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 Q6T" 8K/
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