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光学测量 > 干涉测量 )$2%&9b hY\Eh. 任务/系统说明 Jnh;;<
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j1'xp`jgv 亮点 I!C(K^
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u|_I Twk •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； / K2.V@T •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； | TQedC
,kG w;8X 具体要求：光源 <> &e/ CSd 9\V  )A>U<n $h qv
;1$ 具体要求：用于准直的消色差透镜 y] ~+ `9 W TXD4} H{Y5YTg]  u8{@PlS } kh/mq }iiG$?|.  h%C Eb< :F KYYH\ 具体要求：分束器 1p Ymtr o2 T/IJP  B BApL{
$v?! 6: 具体要求：参考光路反射镜 Ww CK K 110>p  ul z\x2[Pf
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_Vk,& ' 具体要求：测试光路反射镜 fY,@2VxyfA Hb@G*L$  e aYkYuS/
&4[#_(pk 具体要求：探测器 }LHT#{+ x k^'d@1z;C  <x>k 3bD N18diP[C 结果：3D光线追迹 2RSHB o u75)>^:I  U4^p({\|- 8 /RfNGY 结果：场追迹 ]`/R("l[ sBuq
 CwEWW\Bu
U~){$kpI# 结果：移动样品的场追迹结果 6ljRV) QU,TAO  _/z)&0DO 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。
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