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光学测量 > 干涉测量 :Pc(DfkS _FT6 ]I0 任务/系统说明 -ovoRI^6`}
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r 5[4h'f •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； )Z("O[ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ]Y{,N x
ewpig4 具体要求：光源 bf1)M>g,O ) y`i@S}J  z" EWj7 3 9j 0o&Xn 具体要求：用于准直的消色差透镜 p3 e|j &~'S)Nun ;I+H>$%jZ  Xo \S9,s{ <1K7@Tu <*_o0;h|  nZxSMN0] JYQ.EAsr! 具体要求：分束器 Ev{MCu1!6 (n,N8k;  *,&S' ,S-
O5M2`6|As 具体要求：参考光路反射镜 []gRfM]$& I>aGp|4  6A?8tm/0
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r%|A$=[Q 具体要求：测试光路反射镜 7E\g
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(0R2T"/ 具体要求：探测器 ?!y"OrHg ) b0];&hw]  toIYE*ocv= IJ_ m 结果：3D光线追迹 :3O5ET'1 <h@]Ri  {E~Xd %J!NL0x_ 结果：场追迹 [,b)YjO~Xd I0_Ecp
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Kp&3=e;vn{ 结果：移动样品的场追迹结果 $UC {"0 $w/E9EJ)3A  ]-bQNYKX 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 {m[Wyb(
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