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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 A'"-m)1P  
    4=p@2g2"H  
    任务/系统说明  ]R Mb,hJ  
    mTEVFm  
    'H=weH  
     / = ^L iP  
    亮点 $ly0h W  
    cztS]dcf>~  
    u3wL<$2[8  
     6D9o08  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； v>WB FvyD  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； +?e}<#vd'?  
     org*z!;.   
    具体要求：光源 PqhlXqX9  
    aii'}c  
    [$2qna2VP  
    MCAXt1sL&E  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 8!j=vCv  
    &N{zkMf  
    D_aR\  
    !P"?  
    ~.Q4c*_b  
    ~N[|bPRmhE  
    mG}k 3e-  
    z^~U]S3  
    具体要求：分束器 %UmbDGDWI  
    ]7F)bIG[  
    &HxT41pku  
     _5h0@^m7y  
    具体要求：参考光路反射镜 l%bq2,-%  
    >q&L/N5  
    AijUs*n 2  
    /\~W$.c  
    GI4oQcJ  
     6bJ"$o  
    具体要求：测试光路反射镜 d H_2 o  
    *eoq=,O  
    AJWLEc4XK  
     W]~ZkQ|P  
    具体要求：探测器 3YRB I|XO  
    y<uE-4  
    t>@yv#  
    sbjtL,  
    结果：3D光线追迹 ./)j5M  
    TA9dkYlE/  
    mdt ?:F4Q  
     /Ef4EX0  
    结果：场追迹 D`fc7m  
    \#_@qHAG  
    < [ w++F~  
     cqHw^{'8  
    结果：移动样品的场追迹结果 Vd[  2u  
    ;y ,NC2Xj  
    :28@J?jjO  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 UR\ZN@O  
     
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