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光学测量 > 干涉测量 oR+Fn}mG 8w{V[@QLn 任务/系统说明 /:S.(" Unv
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WGVc 亮点 rTi.k
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9U+^8,5 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； *@O;IiSE •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ]Y3ALQr!
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[ulP 具体要求：光源 "$WZd }>grGr%oR  5vS'Qhc I!bG7;=_ 具体要求：用于准直的消色差透镜 UPbG_ #"wZ 'HOt?lpu! 77) C`]0(  QII>XJ9 P| G:h& il:+O08_  d~.# K S poM VB{U 具体要求：分束器 U7{,
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^fRA $t 具体要求：参考光路反射镜 r1,RloyZS kg_TXB  zhFGMF1
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r l !c\ 具体要求：测试光路反射镜 W4Zi?@L>' ^ G5 _d"Gr  ;0ake%v]
."9v1kW 具体要求：探测器 htIV`_<Ro `?~pk)<C]. 
~UXW kGCd!$fsk 结果：3D光线追迹 ! )ee{CwNc 94H 6`  g&v 2=&aj 92XzbbLp 结果：场追迹 yY8q{\G E{h
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a: 1-n %&F 结果：移动样品的场追迹结果 R\)pW9) ]>&au8  ij/ |~-! 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 F $B _;G
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