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光学测量 > 干涉测量 qzj.N$9] nt]'>eX_} 任务/系统说明 )3 I~6ar
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Dm@h'* 亮点 zfD@/kU
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 ~.tl7wKkR/
x?UAj8z6 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； /F$E)qN7n •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； F pT$D
86pA+c+U 具体要求：光源 ?n]adS{ d5>EvK U  ken.#>w }[{9u#@# 具体要求：用于准直的消色差透镜 3ey.r%n !}5f{,.RO eslvg#Q  AdpJ4}|0 !4a#);`G C2aA])7 D  EKD#s,(V*X i&1rf | 具体要求：分束器 K.=5p/^a 0 h~{ K 
)7{r8a
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l;TS%$ 具体要求：参考光路反射镜 m^\&v0 g[R4/]K^$  it-]-=mqb
V.9p4k`
 K_AdMXF9
- %0pYB 具体要求：测试光路反射镜 YV _ 7 .+A ^D1gcI 
bsm/y+R
qqJghV$Oj 具体要求：探测器 _R(9O?;q S A#01}&p  `rXb:P7m{j Zb&pH~ 7 结果：3D光线追迹 ?(U a+*b ie11syhV"  o%f:BJS Y]=k"]:% 结果：场追迹 aM
xd"cTzx H0!$aO
 gkX 7,J-0
tUuARo7# 结果：移动样品的场追迹结果 d/T&J= (t\U5-w  fdW qc_ 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 \>>P%EU,
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