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光学测量 > 干涉测量 OnFx8r:q@% 3OTq 任务/系统说明 j/_@~MJBt jrT5Rw_}q
}8J77[>/ Rda o 亮点 LyR to +ew 2+2
9Y&,dBj+ ;Q>(%"z}; •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; tgEXX- { •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ;=.VKW%U (NrH)+)J!a 具体要求:光源 sr,8zKM) Tx"}]AyB6 C*Avu ] >-#T 具体要求:用于准直的消色差透镜
_=@9XvNM !/O c)Yk }<`Mn34@ L/9f"%kZ o
mstJ9 Kt3/C'zu fdP[{.$?( x"0*U9f 具体要求:分束器 A;Rr#q< mle"!*
L>Bf}^ XmN3[j 具体要求:参考光路反射镜 8$}1|"F /Y|oDfv CI$pPY<u1 JK0L&t<
*fVs| J@'}lG 具体要求:测试光路反射镜 13(JW
h7mJXS)t| Z=`\U?, Z7?C^m 具体要求:探测器 KA1Z{7UK% ,W"Q)cL #7K&x.w$ \v.16o bH 结果:3D光线追迹 diN5*CF'~ ~9#[\/;" zMasA = BW>jD 结果:场追迹 ;7CE{/Bq.p g,/gApa
5]n5nqz }I_/>58 结果:移动样品的场追迹结果 D/pc)3Ofe :{NvBxc[ Wi ]Mp7b 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 $8#zPJR&
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