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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 OnFx8r:q@%  
    3OTq  
    任务/系统说明 j/_@~MJBt  
    jrT5Rw_}q  
    }8J77[>/  
    Rdao  
    亮点 LyRto  
    +ew2+2  
    9Y&,dBj+  
    ;Q>(%"z};  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; tgEXX-{  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 ; =.VKW%U  
    (NrH)+)J!a  
    具体要求:光源 sr,8zKM)  
    Tx"}]AyB6  
    C*Avu  
    ]>-#T  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 _=@9XvNM  
    !/O c)Yk  
    }<`Mn34@  
    L/9f"%kZ  
    o mstJ9  
    Kt3/C'zu  
    fdP[{.$?(  
    x"0*U9f  
    具体要求:分束器 A; Rr#q<  
    mle"!*  
     L>Bf}^  
    XmN3[j  
    具体要求:参考光路反射镜 8$}1|"F  
    /Y|oDfv  
    CI$pPY<u1  
    JK0L&t<  
    *fVs|  
    J@'}lG  
    具体要求:测试光路反射镜 13(JW  
    h7mJXS)t|  
    Z=`\U?,  
    Z7?C^m  
    具体要求:探测器 KA1Z{7UK%  
    ,W"Q)cL  
    #7K&x.w$  
    \v.16obH  
    结果:3D光线追迹 diN5*CF'~  
    ~9#[\/;"  
    zMasA  
    =BW>jD  
    结果:场追迹 ;7CE{/Bq.p  
    g,/gApa  
    5]n5nqz  
    }I_/>58  
    结果:移动样品的场追迹结果 D/pc)3Ofe  
    :{NvBxc[  
    Wi]Mp7b  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 $8#zPJR&  
     
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