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光学测量 > 干涉测量 xD 7]C|8o OrW 任务/系统说明 !IR6
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iow"n$/ 9H~n_ 亮点 "
1tH IGgL7^MF
XP}<N&j FTldR;}( •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 3c%caK •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; >GuM]qn iRBfx 具体要求:光源 ` %}RNC AFn7uW!9Gw mZBo~(} @+DX.9 具体要求:用于准直的消色差透镜 I 6O 1Ws9WU MfkZ z!\*Y
=e v^PO|Z #z42C?V "jCu6Rj d c " ,*h 具体要求:分束器 8EY:tzw M\=2uKG# T{'RV0%
?cZlN! 具体要求:参考光路反射镜 lx i<F DwF hK* $Q0n =u;MCQ[
QL* IiFR t,'<gI 具体要求:测试光路反射镜 -qoH,4w '>"
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e 具体要求:探测器 nFn5v'g pk~WrqK} ;}t(Wnu. p[cX O= 结果:3D光线追迹 Pz^544\~ou Zc2PepIg EK'!}OGCG Ss`LLq0LO 结果:场追迹 ]f3>-)$* /tLVX} &
_*zt=zn> _4f;<FL 结果:移动样品的场追迹结果 I_BJH'!t W>LR\]Ti@ r
:dTz 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 E_`=7i
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