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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 ]Q>.HH  
    P} 0%-JC  
    任务/系统说明 +RyjF~  
    J|~MC7#@q  
    7Rd'm'l)  
     (O.d>  
    亮点 FB{KH .  
    mF,Y?ax  
    &6ZD136  
     f;W|\z'  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； mP0yk|  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； J&.{7YF  
     5h Q E4/hH  
    具体要求：光源 -o $QS,  
    /5Oa,NS7  
    u>kN1kQ8  
    G!>z;5KuS  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 gm igsXQ  
    g*03{l#P  
    Kx;eaz:gx  
    05b_)&4R  
    , udTvI  
    +trC,D  
    ;"dV"W  
    ms*(9l.hOK  
    具体要求：分束器 $a ]_w.@  
    925|bX6I  
    y5?RVlKJ  
     G9xmmc  
    具体要求：参考光路反射镜 w5Ay)lz  
    9~]~#Uj  
    mOy^vMa  
    lku[dQdk  
    Ju96#v+:  
     /s@oZ{h  
    具体要求：测试光路反射镜 VUPXO  
    RS)tO0  
    8<8:+M}  
     "Zl5<  
    具体要求：探测器 JBE!j-F  
    n `&/ D  
    .1KhBgy^K  
    [d(U38BI  
    结果：3D光线追迹 5-aj 2>=7  
    lQ" p !  
    6kpg+{;  
    *>|gxM8  
    结果：场追迹 YH vLGc%  
    ?OcJ )5C4  
    kCR_tn 4  
     k5:G-BQ:  
    结果：移动样品的场追迹结果 "D63I|O)  
    q8/MMKCbX  
    w80oXXs[#  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 ok!L.ac  
     
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