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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 d_]zX;_  
    b v~"_)C  
    任务/系统说明 WL+I)n8~  
    3Jf_3c  
    YR^J7b\  
    *#w+*ywVZH  
    亮点 <Zl}u:(w  
    ~+7q.XL$$K  
    b+9M? k"  
    ESft:3xyw  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 7NE"+EP\{2  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 a)/!ifJ;  
    0ERA(=w5  
    具体要求:光源 =E,^ +`M  
    5L'X3g  
    _f8Wa u# "  
    p<: bP w  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 R#DnV[!\  
    '1_CMr  
    \ym3YwP4/:  
    |9Q4VY'";  
    ,C1}gPQ6<  
    V)mitRaV  
    %7 7v'Pz1  
    Ko|nF-r_  
    具体要求:分束器 EIPNR:6t  
    =W$ f +  
    UJ* D  
    #?DwOUw  
    具体要求:参考光路反射镜 XvETys@d  
    ' @i0~  
    B+:/!_  
    p#g o<Y#  
    [T<nTB# w  
    8lk@ev=O&  
    具体要求:测试光路反射镜 e:D8.h+ &}  
    |WwC@3)  
    sxkWg>  
    yyB;'4Af  
    具体要求:探测器 P|*c7+q  
    W;!OxOWZJ  
    5+Fr/C  
    lLhvpvT  
    结果:3D光线追迹 pY]T3 2  
    @K .{o'  
    nI]8w6eCV  
    cuzU*QW"g  
    结果:场追迹 A{X:p3$eN  
    AtU%S9  
    xU<WUfS1  
    Sy()r 6n  
    结果:移动样品的场追迹结果 n.is+2t  
    PgHe;^?j  
    m#w1?y)Z@X  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 NhJ]X cfP8  
     
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