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光学测量 > 干涉测量 ) %Xp ?H_ |o eg'T 任务/系统说明 |(x%J[n0+
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g NE"z 亮点 1 h(n}u
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Xl$r720ZJr •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； *@lVesC2 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； lnl >! z
F'<XB~ &o 具体要求：光源 P<1&kUZL l-IA Q!d  w'i+WEU>l 'yOx&~H] 具体要求：用于准直的消色差透镜 I7XM2 xM KxmB$x5-=8 3 P\4K  )q!dMZ( ! x-9A P5XUzLV
L  vE t=enQ `aMnTF5: 具体要求：分束器 yYJ +vs R,!a X"]|  ?)qm=mebY
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XPY=EQ 具体要求：测试光路反射镜 ] C_$zbmi $f"Ce,f  BW`Tw^j
OJ\j6owA 具体要求：探测器 -> 'q /ubG a6N  (:# 4{C !q+
%]k?x 结果：3D光线追迹 & ~)1mnv. L@ N\8mf  _A$V~Hp9q
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/h!iLun7I 结果：移动样品的场追迹结果 "Bn]-o|r 6:bvq?5a5  !E/%H v1 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 iaaD1 <m
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