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光学测量 > 干涉测量 ;
tvB{s_ c#"\&~. P 任务/系统说明 ~8pf.^,fi -ZQ3^'f:0J
mSwOP tsfOPth$* 亮点 a2=wJhk GetUCb%1
XN=<s;U fwsq: •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; U"m!f*a •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; jcq(=7j `t!iknOQ$ 具体要求:光源 f!LZT! y wmo'Pl a
_ j{U-=[$' 具体要求:用于准直的消色差透镜 @/$mZ]|T _"0n.JQg MqoQs{x <*(~x esPS >D:S)" -'}iK6 iU%Gvf^?'5 m]"YR_ 具体要求:分束器 uhc0,V;S 3lL:vD5( ]LSa(7>EU E0O{5YF^T 具体要求:参考光路反射镜 =JVRm
2#* Uw&+zJ }7.q[ ^oF GU[Cq=k
&PgdCijGq; [qZ4+xF,, 具体要求:测试光路反射镜 ~!&[;EM<bm M9&tys[ KX KFfwZkj{ *e>:K$r 具体要求:探测器 vq5I 2 so8-e /Hx0=I hYWWvJ)S 结果:3D光线追迹 =u'/\nxCF O,OGq0c c''O+,L1+ S~TJF}[k^6 结果:场追迹 ~o2{Wn[" Aj`4uFhiL
f:UN~z'yr -{7N]q)} 结果:移动样品的场追迹结果 >{??/fBd- <Ihn1? =f|>7m.p 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 F"F(s!
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