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光学测量 > 干涉测量 +80bG(I_ |'z24 :8 任务/系统说明 6<T:B[a- 3&CV!+z
AwjXY,2 ,SidY\FzH 亮点 ;i\N!T{> TY'c'u,
Q4_r) &np n}_}#(a •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; #4./>}G •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 3UaW+@ 9!(%Vf> 具体要求:光源 S3l^h4 Km
$o@ &a=78Z 8lzoiA_9 具体要求:用于准直的消色差透镜 ;N?(R\*8 &l3(+4Sh fLqjBG]< T- _)) _dRB=bl"O 1O<6=oH #Tei0B7 *asv^aFpS 具体要求:分束器 mvK^') 0FtwDM)) c8YbBdk' '~Cn+xf4] 具体要求:参考光路反射镜 p]EugLEmG nq HpYb6I0 YI
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g(9* !g )ds]fvMW]N 具体要求:测试光路反射镜 z?.9)T9_ '(FC
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i (T2c 具体要求:探测器 ~ HhB@G!3 tiE|%jOzt +^+'.xQ :>JfBJ]| 结果:3D光线追迹 wpuK?fP OcO/wA(&{ 4pf@.ra, e}1Q+h\ 结果:场追迹 _wK.n.,S~ u+r!;-0i
V%s7*`U /nQuM05*Z 结果:移动样品的场追迹结果 %]&$VVVh Lo1ySLo$G PXYLLX\3 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 tRJ5IX ##L
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