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光学测量 > 干涉测量 HJ"GnZp< u9e@a9c 任务/系统说明 )nkY_'BV x5Bk/e'
K-v#.e4 q V=!ORuj 亮点 04ui`-c( Lbgi7|&
ah "o~Cbj zhQJy?>'m •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; c 9Mz]1@f •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; A.SvA Yn ?<!| 具体要求:光源 y29m/i: Q &8-\ e~OpofJNb Jy)/%p~ 具体要求:用于准直的消色差透镜 Gc?a +T 9up3[F$ ("KF'fp&M2 4#D,?eA7 -).C Wtnfa{gP% \bXa&Lq &oNAv-m^GD 具体要求:分束器 :OT& ZJoM?g~WFI z{q`G wW ~N4m1s" 具体要求:参考光路反射镜 l1I#QB@5n "+c-pO`Wg Xw1*(ffk 3]hWfj1m2
Ry&6p>- " bG2: 具体要求:测试光路反射镜 vN $s|R'@ T{"(\X$ +@UV?"d k6^Z~5
Sy 具体要求:探测器 (7Qo :RYTL'hes +T ?NH9 [g,}gyeS( 结果:3D光线追迹 \8tsDG(1 ' 4-w{BZuS 2wn2.\v M ]:;&1h3'7 结果:场追迹 buC{r,
kAx4fE[c
al0L&z\ d9ihhqq3} 结果:移动样品的场追迹结果 nN;u,}e }JfjX' V&i;\ 9 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 Ac6=(B
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