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光学测量 > 干涉测量 r1[0#5kJ;J -Oo$\=d 任务/系统说明 ]t,ppFC#
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]!f=b\-Av 亮点 |H L1.;1
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3A+d8fwi •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； m1(rAr1 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ;xb: {?
LOQEU? z 具体要求：光源 +>s[w{Svy >FY`xl\m}<  1|zo -'y $, R|$0B7 具体要求：用于准直的消色差透镜 kY*D s; Y+D#Dv | O *30| [  P'g$F<~V IQR?n}ce Jo2:0<VL  nzU @ }/A/ M*t{?o/t; 具体要求：分束器 :#+VH_%N GU_R6Wt+  A$
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h'wI /Z_' 具体要求：参考光路反射镜 l wa Yw./V0Z{@  O 7E0{8
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c$>Tfa'H 具体要求：测试光路反射镜 / S]<MS <zrGPwk  wVp
G !wFG-Y} 具体要求：探测器 6VIi
nuOW 40mgB4I  @'dtlY5; 6tj + 结果：3D光线追迹 ,\ov$biL *_@8 v?  ]x?`&f8i NKh 8'=S 结果：场追迹 yy G:Kl 3s"x{mtH
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{ "=d7i 结果：移动样品的场追迹结果 ?9.SwIxU& Bh<)e5lP:  <w<&,xM 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 <$/'iRtRzW
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