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光学测量 > 干涉测量 n>'Kp T9| f# Xyoa% 任务/系统说明 6eokCc"o
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0T>H)c6:\ 亮点 |{@FMxn|q
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ci+tdMA •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； vO;I(^Q •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； JB nK K
f}D1|\7 具体要求：光源 \qUK P"dr DvM5 k  gqWupL
jM:Y' l] 具体要求：用于准直的消色差透镜 *kIc9 } RQFI'@Ks 1xc~` ~  t5[[JD1V ujJI
1I RyRpl*^  G7=p Bf +t2SzQ j> 具体要求：分束器 SwU\
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TT9z_Q5~ 具体要求：参考光路反射镜 n$[f94d= :{q"G#  76vy5R(.
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``A 0WN 具体要求：测试光路反射镜 45&8weXO:' ,/O[=9l36R  .`CZUKG
+ki{H}G21 具体要求：探测器 =H<0o?8?c Z@gnsPN^r  m4:^} O-# P_u|-~|\ 结果：3D光线追迹 mQ }ny (K' )+H[kiN  }qjCTEs} >]=j '+] 结果：场追迹 V Yw%01# !,Zp? g)
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h[\ ) 结果：移动样品的场追迹结果 vKoP|z=m E| :!Q8"%w  ~L7:2weV[ 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 dd|W@Xp -
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