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光学测量>显微 `a:L%Ex 0X:
:<N@ 任务/系统描述 Ix1[ $9 HLp9_Y{X.
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< 亮点 -)dS`hM ^N2N>^'&1.
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J-X= 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 0//B+.# 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 _5l3e7YN 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 X GhV?
tA c=Y8R/G< 说明:光源 TexSUtx@$ cN]]J SPEDN}/^ 1-6[KBQ8 说明:透镜系统 I,0Z* rw {;[W'Lc 2ij/! KfkE'_F 说明:样品结构 %J%ZoptY: WG\gf\= I F>!gwmn~ H.R7,'9 说明:探测器 o 2Okc><z hD I}V1) M!nwcxB! oPVyLD 结果:3D光线追迹 e9e7_QG_- ZZJXd+Q}
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KG 结果:场追迹矩形光栅 ( 8}'JvSu 3Q-[)Z ) Js("H 2-#:Y
结果:场追迹锯齿形光栅 Q*h%'oc` JMa[Ulz MlBw=Nr
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