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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 `a:L%Ex  
    0X: :<N@  
    任务/系统描述 Ix1[ $9  
    HLp9_Y{X.  
    48t_?2>  
    J[7|Ul1 <  
    亮点 -)dS`hM  
    ^N2N>^'&1.  
     $% 5f  
    jn/ J-X=  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 0//B+.#  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 _5l3e7YN  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 X GhV? tA  
    c=Y8R/G<  
    说明:光源 TexSUtx@$  
    cN] ]J  
    SPEDN}/^  
    1-6[KBQ8  
    说明:透镜系统 I,0Z* rw  
    {;[W'Lc  
    2ij/!  
    KfkE'_ F  
    说明:样品结构 %J%ZoptY:  
    WG\gf\=I  
    F>!gwmn~  
    H.R7,'9  
    说明:探测器 o 2Okc><z  
    hD I}V 1)  
    M!nwcxB!  
    oPVyLD  
    结果:3D光线追迹 e9e7_QG_-  
    ZZJXd+Q}  
    ^>H+#@R  
    LG6k KG  
    结果:场追迹矩形光栅 ( 8}'JvSu  
    3Q-[)Z )  
    Js( "H  
    2-#:Y  
    结果:场追迹锯齿形光栅 Q*h%'oc`  
    JMa[Ulz  
    Ml Bw=Nr  
     
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