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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 :r39wFi  
    |#cAsf_{  
    任务/系统描述 Ej|A ; &E  
    2f`xHI/@fj  
    6S_y%8Fv&[  
    Dqr9Vv  
    亮点 LR\zy8y]  
    qT 0_L  
    qvTJ>FILT  
    @Mr}6x*  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 X X&K=<,Ja  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 acP ;(t  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 #Gp M22d'(  
    MHNe>C-!q  
    说明:光源 {jhcZ"#>\  
    Z~R dFC  
    SW=aHM  
    /Tcb\:`9  
    说明:透镜系统 2*YP"Ryh  
    i;avwP<0  
    y&3TQ]f\  
    :H3(w|T/  
    说明:样品结构 qSR? ,G  
    X}?ESjZJ  
    &@"w-M  
    XqX I(q^  
    说明:探测器 b_l.QKk  
    (L:`o jiU  
    .f+9 A>  
    Hp*gv/0  
    结果:3D光线追迹 x57'Cg \  
    aulaX/'-_  
    QglYU  
    :SQ LfOQ  
    结果:场追迹矩形光栅 w. vY(s  
    bWUS9WT  
    fX""xT NPi  
    }`4K)(>4nG  
    结果:场追迹锯齿形光栅 %p}qO^%M  
    rQ &S<  
    8`DO[Z  
     
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