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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 6 s{~9  
    ,BCtNt(  
    任务/系统描述 XO+^q9  
    kzqW&`xn?  
     ^[no Gjy  
    wR\Y+Z   
    亮点 |*W`}i  
    66*/"dBwm  
     gnW `|-:\  
    N/QTf1$  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 s l|n]#)  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 RU3:[ (7  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ?(el6J}  
    Vv4 w?K  
    说明：光源 V?Y;.n&y  
    pe>R2<!$  
    n}MW# :eJe  
    79|=y7i#  
    说明：透镜系统 96UL](l(`  
    nqNL[w6{  
    `9BZ))Pg  
     t{#B td  
    说明：样品结构 f 4CS  
    ~Rd,jfx  
    ?.d6!vA  
    &~ of]A  
    说明：探测器 q}[g/%  
    Atc<xp  
    h.PVRAwk  
    od=%8z  
    结果：3D光线追迹 w& yK*nBK  
    $VOSd<87  
     ~NT2QY5!K  
    U$+EUDFi3_  
    结果：场追迹矩形光栅 #-5.G>8  
    nBw4YDR!  
    KY5it9e  
     hKVj\88  
    结果：场追迹锯齿形光栅 oasp/Y.p  
    1iNq|~  
    E,u/^V9x  
     
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