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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 ,T3_*:0hk!  
    =_Y#uE$  
    任务/系统描述 p?+*R@O  
    iv]*HE  
     JYU0&nZl4  
    ^GN|}W  
    亮点 om'DaG`A  
    0(~,U!g[=  
     2V 9vS  
    H3Z"u  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 v5!G/TZ1  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <xWBS/K  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ^6[o$eY3  
    }v?_.MtS  
    说明：光源 Sx%vJYH0  
    p4-bD_  
    G>fJ)A  
    Q\4nduQ  
    说明：透镜系统 #`9D,+2iB%  
    rM?ox  
    crdp`}}  
     HX]pcX^K  
    说明：样品结构 ;+/[<bvd"  
    E5}wR(i,4  
    >9v?p=  
    (ON_(MN  
    说明：探测器 ,wvzY7%  
    '/"xMpN4  
     EL[N%M3  
    VD*xhuy$k  
    结果：3D光线追迹 ^?3e?Q?  
    N7`<t&T@  
     ORo +=2  
    xe3t_y  
    结果：场追迹矩形光栅 0$9I.%4jAJ  
    _+\hDV>v  
    -UM5&R+o  
     ages-Z_X  
    结果：场追迹锯齿形光栅 '"=Mw;p  
    gTp){  
    kM`!'0kt  
     
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