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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 Hw6 2'%  
    sE!g!ht  
    任务/系统描述 {~G~=sC$  
    D 5:'2i  
     {A5$8)nl|  
    Vs Z7 n~e  
    亮点 KP $AT}D  
    U!E}(9 tb  
     _::ssnG3jT  
    Der'45]*^  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ic l]H  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 a=vH:D  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 i CB:p  
    Lf%}\0:  
    说明：光源 }([}A`@  
    /;!I.|j  
    )h{+pK  
    8 @RJ>  
    说明：透镜系统 SwaPRAF  
    )5y" T0]  
    fvV"H{V,  
     %|>D{q6C  
    说明：样品结构 xDsKb_  
    /s+S\ djk  
    bf2r8   
    fr$6&HDZ9  
    说明：探测器 {kb7u5-  
    CC3M7|eO3  
    iOL/u)   
    _A0X[}^K  
    结果：3D光线追迹 *O\lR-z!k  
    ^&$86-PB/  
     "=JE12=u  
    ! CJ*zZ*  
    结果：场追迹矩形光栅 }U4mXkZF  
    @2-;,VL3  
    1KR4Wq@  
     |WfL'_?$  
    结果：场追迹锯齿形光栅 6s ~!B{Q  
    nV`W0r(f'  
    Lw1[)Vk}E  
     
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