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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 Zi\['2CG  
    dP2irC%f8  
    任务/系统描述 /'.=sH  
    `\u;K9S6  
     4-GXmC  
    vV?rpe|%  
    亮点 vxQ8t!-u  
    una%[jTc  
     K4Dp:2/K%  
    /$N~O1"0)  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 VZn=rw  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 QnouBrhO  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 (h-*_a}F4  
    oB1>x^  
    说明：光源  $!@\  
    d5 Edu44  
    h0vob_Fdl  
    7}O.wUKw%  
    说明：透镜系统 &)F*@C-  
    G$zL)R8GE|  
    2I1uX&g  
     =QJRMF  
    说明：样品结构 CI:^\-z  
    m(iR|Zx  
    98jN)Nl,oD  
    M]v=-  
    说明：探测器 RZp cXv  
    6(|d|Si *c  
    RR;AJ8wd  
     ,B<l  
    结果：3D光线追迹 )+")Sz3zx  
    m9}AG Rj  
     GV6K/T :  
    22P$ ~ch  
    结果：场追迹矩形光栅 5BkV aF7Th  
    O#EV5FeF.  
    iJxQB\x  
     /%aiEhL  
    结果：场追迹锯齿形光栅 88"Sai  
    <mMTD8Sx]  
    `cQo0{xK  
     
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