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光学测量＞显微 /s:akLBaD yNx"Ey dk` 任务/系统描述 @qJv m}
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 HZ2 zL17 kS7T ' [d 亮点 .fW`/BXE
oU 8o ;zk0
 >y q L / dn]`Ge) 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 wIbc8ze 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 P#Ikj& l 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 483vFL nF pm;g)p? 说明：光源 =W P}RZ{S }fxH>79g  %}&9[# .^1=*j(; 说明：透镜系统 Ix5yQgnB}j ?Z7C0u#wd  d}415 XA
55|$Im nf 说明：样品结构 (C QgT3V 1$2Rs-J  B "}GAk}V 3vs2}IV' 说明：探测器 ~GY;{ J5rR?[i{  Kd,m;S\ 2W~2Hk=0+% 结果：3D光线追迹 'XQv> J khu,P[3>
 !! K=v7M "ChBcxvxb: 结果：场追迹矩形光栅 ?
8!N{NV x[oYN9O  y.eBFf
p0YTZS ]h 结果：场追迹锯齿形光栅 CC87<>V  >\p}UPx Ul@' z|
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