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光学测量>显微 :r39wFi |#cAsf_{ 任务/系统描述 Ej|A
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6S_y%8Fv&[ Dqr9Vv 亮点 LR\zy8y] qT0_L
qvTJ>FILT @Mr}6x* 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 X X&K=<,Ja 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 acP
;(t 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 #Gp
M22d'( MHNe>C-!q 说明:光源 {jhcZ"#>\ Z~RdFC SW=aHM /Tcb\:`9 说明:透镜系统 2*YP"Ryh i;avwP<0 y&3TQ]f\ :H3(w| T/ 说明:样品结构 qSR?,G X}?ESjZJ &@"w-M XqX
I(q^ 说明:探测器 b_l.QKk (L:`ojiU .f+9 A> Hp*gv/0 结果:3D光线追迹 x57'Cg \ aulaX/'-_
QglYU :SQLfOQ 结果:场追迹矩形光栅 w. vY(s bWUS9WT fX""xTNPi }`4K)(>4nG 结果:场追迹锯齿形光栅 %p}qO^%M rQ
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