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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 'NF_!D  
    .8hB <G  
    任务/系统描述 t6&6kl  
    sXp>4MomV  
     8FyJo.vr(  
    8`Fo^c=j  
    亮点 6%Ap/zvCZ>  
    ZzPlIl}\  
     rD)yEuYX  
    $lmbeW[0  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 S0nBX"$u  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 [8AGW7_  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 az@{O4  
    B Jp\a7`;  
    说明：光源 Jr m<u t  
    u9rlNmf$  
    \tTZ N  
    Bsi HVr  
    说明：透镜系统 Wf/Gt\?  
    &gxRw l  
    #4"(M9kf  
     @O9.~6  
    说明：样品结构 GFasGHAw  
    ;rWgt!l  
    <CIJ g*  
    mw%do&e  
    说明：探测器 YKq,`7"%  
    v 0mc1g+9  
    z><=F,W  
    & .VciSq6  
    结果：3D光线追迹 22S4q`j  
    o@j]yA.5)  
     ^c3~CD5H 3  
    H%NIdgo}  
    结果：场追迹矩形光栅 @sRRcP~  
    e eb`Ao  
    ?WE#%W7U  
     2iHD$tw  
    结果：场追迹锯齿形光栅 0FmYM@Wc  
    O\;Z4qn2=  
    U8L%=/N>B  
     
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