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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 O`$#Pg  
    '>v^6i S  
    任务/系统描述 yt+}K)Hz  
    X{g%kf,D=  
    %G@5!|J  
    {gKN d*[*  
    亮点 '&;69`FSe  
    {@u<3 s  
    V >,Z-&.%  
    c:l]=O   
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 3[XQR8o  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 poJg"R4  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 jb /8?7  
    M]-VHI[&W  
    说明:光源 T|"7sPgGR  
    ;p ]y)3  
    M/*NM= -a  
    pX=,iOF[I  
    说明:透镜系统 z\/53Sy<  
    ba3-t;S  
    {$M;H+Foh  
    ]/T -t1D  
    说明:样品结构 GPWr>B.{:S  
    $A}QY5`+~S  
    B/"2.,  
    |8)Xc=Hz  
    说明:探测器 +3,|"g::  
    Z7jX9e"L  
    2>\\@ 1  
    -n*;W9  
    结果:3D光线追迹 Yn9j-`  
    \nqo%5XL  
    X;!D};;M  
    xiyxr R;  
    结果:场追迹矩形光栅 <SVmOmJ-K  
    MF[z -7  
    ,PWj_}|L[  
    &!35/:~uD  
    结果:场追迹锯齿形光栅 !6w{(Rc(C  
    N*DhjEU)[  
    ' 9J|=z9.  
     
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