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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 !nC Z,  
    6t<~. 2'  
    任务/系统描述 ycIT=AFYqd  
    :$j!e#?=  
     w[UPoG #Uh  
    {>pB  
    亮点 YNH>^cD1  
    45W:b/n\  
     Yk6fr~b  
    GL9R 5  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 >dn[oS,  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 kT[]^Jtc  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 hnmFhJ !g  
    L5]*ZCDv  
    说明：光源 !nU  
    :~{XL>:S  
    to(OVg7_  
    >/ECLP  
    说明：透镜系统 w[n|Sauy,  
    HRC5z<k%  
    +g@@|&B  
     8~Rja  
    说明：样品结构 )p).}"   
    4ehajK  
    qd%5[A  
    1Hy  
    说明：探测器 kS[k*bN0  
    hSQ P '6  
    |Gzd|$%Oq  
    X CDHd ?Ld  
    结果：3D光线追迹 d]} 7]  
    U3&*,xeU@H  
     W#8qhmt  
    t9zPJQlT}  
    结果：场追迹矩形光栅 VQ$=F8ivG  
    eN,s#/ip]  
    acRPKTs H  
     ~i=/@;wRp  
    结果：场追迹锯齿形光栅 f]0kG  
    eWhv X9 <  
    pz:$n_XC}  
     
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