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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 -HQ(t  
    1RHFWK5Si  
    任务/系统描述 y) .dw(  
    % H/V iC  
     /Pv dP#!  
    X^o0t^  
    亮点 2pQ29  
    KATu7)e&~^  
     o{[w6^D7  
    4(nwi[1Y  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 y?Cq{(  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ~CX1WPMI:  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ?Z(xu~^/  
    0+{CN|0  
    说明：光源 h[(.  
    6N< snBmd  
    2QIx~Er  
    'f_[(o+n  
    说明：透镜系统 4ux^K:z  
    _ ci8!PP  
    taBCE?{  
     |\BxKwS^  
    说明：样品结构 O= 84ZP%  
    i+@t_pxc  
    ;Z6ngS  
    &zV; p  
    说明：探测器  $*$X5  
    R1?LB"aN  
    K#;EjR4H  
    |SX31T9rG  
    结果：3D光线追迹 8, " 5z_  
    zBjbH=  
     Lj2Au_5  
    BTnrgs#[  
    结果：场追迹矩形光栅 ;d<RP VE:  
    wOV}<.W  
    #-7w |  
     2fFGS.l  
    结果：场追迹锯齿形光栅  ovsI2  
    Y]neTX [ef  
    7El:$H  
     
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