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光学测量>显微 A+*(Pds 9
f/tNQ7W 任务/系统描述 /P}tgcs .y/?~+N^
jl29~^@}1i itMc!bUQ 亮点 !H.lVA ;]o^u.PC
J=bOw// td$Jx}'A 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 P?ol]MwaB 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !-Q!/? 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ZI]K+jza c=E.- 说明:光源 QCnVZ" !( I#e*,#'S LM`#S/h +& Qqu`)?F 说明:透镜系统 2Rt ZTn o?8j*] 9 peB+URV 8)ol6Mi{ 说明:样品结构 GY :IORuA4 Um&@
0C+L c(JO;=,@9 6-}9m7# Y 说明:探测器 t')I c6.?i +g30frg+Gl Pk2"\y@q/
.l'QCW9 结果:3D光线追迹 J(L$pIM w-/Tb~#E
[a6lE"yr Fm{y.URo
结果:场追迹矩形光栅 L j\<qF~n pgi7 JQ --D`YmB rbWFq|(_ 结果:场追迹锯齿形光栅 b6VAyTa jlZNANR3 O;tn5
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