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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 U`NjPZe5^  
    jk[1{I/  
    任务/系统描述 r\-uJ~8N  
    n%.7h3  
     8h*Icf  
    @] DVD  
    亮点 1;Cyz)  
    ($;77fPR  
     I%j|D#qY:T  
    {YAJBIvHV  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 o.!~8mD  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Kzm+GW3o[  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 L(|N[#  
    Tz8PSk1[  
    说明：光源 "8x8UgG  
    1AM!8VR2  
    R6kD=JY/!  
    7WkB>cn  
    说明：透镜系统 ^cP!\E-^  
    |@ s,XS  
    i]YV {  
     !Sh&3uy_qN  
    说明：样品结构 8hOk{xs8  
    g(qJN<R C/  
    ~=6xyc/c  
    M3c$=>  
    说明：探测器 Q  Nh|Wz  
    >~[c|ffyo/  
    hKLCJ#T  
    8 D3OOab  
    结果：3D光线追迹 DEG[Z7Ju  
    nYR#  
     (|:M&Cna]  
    ~J wb`g.  
    结果：场追迹矩形光栅 0WZ_7C?  
    fk6%XO  
    cl[BF'.H  
      *'.|9W  
    结果：场追迹锯齿形光栅 5cL83FQh  
    xW)2<m6C&  
    DCIxRPw  
     
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