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光学测量＞显微 k"=*' ga,kKPL 任务/系统描述 p/eaO{6 6 <^$ppwk $
 83]m/Iz "C3J[) qC 亮点 cD9U ^SOS
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 UFZO u%Y AcJrJS)~ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Q e/XEW 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 $U/lm;{% 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ZJ+ad,?, !Mgo~h"]# 说明：光源 5MYdLAjV )Ft+eMYti[  R@uA4Al 8*Fn02 p 说明：透镜系统
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9,&xG\ z= 说明：样品结构 o&M.9V?~~ LRaO}-<b  V^!^wLLi d"E3y pPK 说明：探测器 7}Mnv WP XgXXB Kf$  B [h^] k @@-TW`G7 结果：3D光线追迹 <_k A+&T M/lC&F(
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> 结果：场追迹矩形光栅 +*`kJ)uP +84
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h 2JmRO 结果：场追迹锯齿形光栅 l1`r%9gr  ,B_tAg4~ $0OOH4
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