切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 487阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    6511
    光币
    26700
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 ^r-d.1  
    !uoT8BBAk  
    任务/系统描述 qTK(sW  
    /{:XYeX  
    :._Igjj$=  
    I`(53LCqo  
    亮点 {:3\Ms#  
    hsQDRx%H}  
    OX'V  
    1a/C(4 _k  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析  =   
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 2GORGS%  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 8^^ 1h  
    .;Mb4"7=  
    说明:光源 h]h"-3  
    nShXY6bA  
    24nNRTI  
    @!=Ds'MJC  
    说明:透镜系统 6`7tTn?n  
    %VFoK-a  
    YHO}z}f[!  
    ?$K-f:?c  
    说明:样品结构 QmjE\TcK/  
    {?`7D:]`^  
    MOK}:^bSu  
    L /:^;j`c  
    说明:探测器 "D8WdV(  
    y~\ujp_5w  
    26g]_Igq  
    cz,QP'g  
    结果:3D光线追迹 'KIT^k0"Ih  
    I]` RvT  
    < #ON  
    t$(#$Z,RS  
    结果:场追迹矩形光栅 j &,Gv@  
    kBhjqI*  
    COsmVQ.  
    #lrwKHZ+  
    结果:场追迹锯齿形光栅 ?[d4HKs  
    jQ;/=9  
    cN0 *<  
     
    分享到