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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 Gvb>M=9  
    ZXY5Xvt:v  
    任务/系统描述 cWA9n}Z  
    T\{ on[O  
     VL?ubt<  
    N)RyRR.x1.  
    亮点 `kpX}cKK}  
    " 2Dz5L1v  
     68[3 /  
    Q&opnvN  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 cuO(*%Is1  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 E3X:{h/  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 GLp2 ?fon  
    zcF~6-aQ  
    说明：光源 X};m\Bz  
    =;W"Pi;*  
    nL%;^`*8  
    mS p -  
    说明：透镜系统 Hzcy '  
    5bYU(]  
    $3[IlQ?  
     y< W?hE[  
    说明：样品结构 GpMKOjVm|  
    5Q#;4  
    x%pC.0%  
    OL4I}^*,  
    说明：探测器 I= G%r/3  
    Dd-;;Y1C  
    :9Zu&t  
    h$F;=YS   
    结果：3D光线追迹 <H<5E'm  
    (%}T\~`1z#  
     3FT%.dV^  
    L$=@j_V2  
    结果：场追迹矩形光栅 Q&] }`Rp=  
    7F5 t&  
    !rZO~a0  
     jJk M:iR  
    结果：场追迹锯齿形光栅 {hGr`Rh  
    C)~YWx@v  
    lhw]?\  
     
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