切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 319阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 Iv<9} )2K  
    .u*].As=  
    任务/系统描述 Yjl0Pz .q  
    v)d0MxSC  
    Hxl,U>za#  
    pMB=iS<E  
    亮点 $0*47+f  
    O5{XT]:  
    2:N_c\Vi  
    iTt=aQjd  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Qwa"AY 5pW  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 j?,*fp8  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 'sF563kE  
    yo.SPd="Vx  
    说明:光源 ,xz^ k/.  
    H n!vTB  
    m6x. "jG  
    2`I;f/S d  
    说明:透镜系统 +lT]s#Fif  
    >slN:dr0:  
    '&QT}B  
    u}1vn}F{  
    说明:样品结构 "r V4[MVxt  
    'U"3'jh  
    N ACY;XQ%  
    u-9t s  
    说明:探测器 +2}(]J=-  
    GnOo+hB  
    2jZ}VCzRG  
    1Kh?JH  
    结果:3D光线追迹 ^.C X6%  
    ]2%P``Yj  
    zzQH@D1  
    )t0b$<%  
    结果:场追迹矩形光栅 Qiw eM?-  
    ++!E9GU{  
    %gMpV  
    \.1b\\  
    结果:场追迹锯齿形光栅 mY 8=qkZE  
    ];d:z[\P  
    N#)VD\m  
     
    分享到