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光学测量>显微 YKUb'D:t] [{i"Au] 任务/系统描述 wb#ZRmx} R;G"LT
YR 5C`o r@O5{V 亮点 .qN|.:6a isG8S(}IW&
_5t~g_(1OK t-gLh(-. 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 !nBE[& 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 fj7\MTy 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 |g$n-t !Qqi% 说明:光源 ,cesQ
ou M2$.Yom[ I:L}7uA[t ~l^Q~W-+ 说明:透镜系统 #80[q3 MR?5p8S#g X0}+X'3 h:4Uv}Z 说明:样品结构 (/^s?`1{N? x @a3STKT _, ki/7{ _ddOsg|U 说明:探测器 >, 9R :X( <73dXTZ0 <\fB+ AZ C3]"y7 结果:3D光线追迹 sU=7)*$ }g9g]\.!a
BKV,V/*p Bn<1zg5 结果:场追迹矩形光栅 9*<=K :f/T$fa* O u-/dE% X1C
&;5 结果:场追迹锯齿形光栅 zgnZ72% 6SqS\ 8 L|*0
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