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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 d|DIq T~{W  
    Gf]oRNP,N  
    任务/系统描述 Cg)#B+  
    2yeq2v   
     EYG&~a>L*  
    EL~s90C  
    亮点 6o6!O l  
    K\n %&w  
      0fNWI  
    G|Q}.v  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 XwlUkw "q  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 @RT yCr  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Zj`eR\7~  
    o&I 0*~ sN  
    说明：光源 Oi l>bv8  
    F"B!r-J  
    ;zz"95X7  
    Fi*6ud\n!  
    说明：透镜系统 S2j7(T;~YB  
    li NPXS+  
    ^{Syg;F=  
     :(I)+;M}P  
    说明：样品结构 $o]suF;3  
    -pkeEuwv{  
    ,wZ[Y 3  
    ;O5NZa!.73  
    说明：探测器 ;'p0"\SV  
    7d'@Z2%J0  
    vuw1ycy)  
    5]'iSrp  
    结果：3D光线追迹 Ep0Aogp29  
    17};I7  
     3OM\R%M  
    u45e>F=  
    结果：场追迹矩形光栅 <_42h|-  
    {/B) YR  
    .:<c[EJ b  
     ugMJ}IGq  
    结果：场追迹锯齿形光栅 N#ex2c  
    tK8\Ib J  
    ?]paAP;4  
     
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