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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 m2h@*  
    :,[=g$CT:  
    任务/系统描述 {Xw6p  
    E Zh.*u@^r  
     U,e'vS{  
    (m%A>e B  
    亮点 ~P;KO40K  
    _&xi})E^O]  
     ] lONi  
    2T >K!jS  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 '7;b+Vbl#  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 DLBHZ?+!  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 _Cnl|'  
    }{#ty uzAo  
    说明：光源 K#_x.: <J  
    GX-V|hLaGX  
    .m/$ku{/J  
    \!Cc[n(f#  
    说明：透镜系统 s.qo/o\b  
    6! .nj3$*  
    Oll,;{<O  
     .XTR HL*:  
    说明：样品结构 jPc"qER!  
    ?CU6RC n  
    '2X6 >6`w  
    ExKjH*gn  
    说明：探测器 O~~WP*N  
    MIF`|3$,  
    qGVf! R  
    %!X9>i>  
    结果：3D光线追迹 X" m0||  
    97 eEqI$#  
     JVxGS{Z  
    QMAineO  
    结果：场追迹矩形光栅 d.Im{-S  
    e:uk``\  
    SR8)4:aKW  
     m]Gxep0%  
    结果：场追迹锯齿形光栅 fWk,k*Z 9  
    o4PJ9x5R!  
    ky#5G-X  
     
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