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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 1-4[w *u>  
    9)b{U2&  
    任务/系统描述 rTC|8e  
    !"08TCc<  
     z&qOu8Jh  
    H?ue!5R#L  
    亮点 )5<dmK@  
    M-!#-l  
     s.Mrd~(Drz  
    3WfZzb+  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 >X>]QMfh  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 }ZwnG=7T?  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 tJGPkeA  
    %z @T /  
    说明：光源 lvk*Db$  
    <dk9n}y<,  
    <(qdxdUp  
    1-!|_<EW1  
    说明：透镜系统 [h\_yU[ P  
    wDh&S{N  
    3fop.%(  
     pAEJ=Te  
    说明：样品结构 QX-M'ur99  
    #)6 bfyi-  
    LR17ilaa'  
    q 7+|U%!9  
    说明：探测器 xA}{ZnTbN  
    l4^8$@;s  
    52 DSKL  
    8wS9%+  
    结果：3D光线追迹 zWdz9;=_  
    =\<!kJ\yH  
     =0U"07%}  
    G~4|]^`g  
    结果：场追迹矩形光栅 {\= NZ\  
    y+VR D  
    @qsOWx`l$  
     ><@& &u.  
    结果：场追迹锯齿形光栅 JAL"On#c#0  
    JDMsco+j5  
    7aN oqS+  
     
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