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光学测量＞显微 M?= ; JJ: : ^ 8 任务/系统描述 $P1O>x>LIL j p $Z]
 \Mg`(,kwe jiF?fX@ 亮点 Yvn\x ph3
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 SIb Dj[s f;}E h G' 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 d
Le-nF 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 S1D@vnZ3O\ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 P&Pj>!T5
rr#K"S P 说明：光源 P2nft2/eu? n}s~+USZX  A 'G@uD@3 ##Z_QB(; 说明：透镜系统 5 ,)Q w ,gL9? Wz  F :6SPY
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0* /{4)r 说明：样品结构 '#(v=|J aZ En6*0B  -hkQ2[Ew# s?ko?qN( 说明：探测器 #
O4gg $lhC{&tBV  W>q H FoKa 6sa"O89 结果：3D光线追迹 N)&4 Hy 3Vp# a:
 ;<0LXYL; QdLYCR4f 结果：场追迹矩形光栅 4A9{=~nwT Mwg u9 3?  WD'#5]#Y
0oEOre3^% 结果：场追迹锯齿形光栅 3s"0SLS4  o[H{(f 1% \6;=$f/?t
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