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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 ut*sx9l  
    ]>9[}'u  
    任务/系统描述 N*1{yl76x  
    '?Jz8iu-  
     |e QwI&  
    HZawB25{  
    亮点 qWdob>u  
    gmqL,H#  
     |j2$G~B6  
    $etw'c0  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 im-XP@<  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 N,3 )`Vm  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ixvF `S9  
    iW?z2%#  
    说明：光源 ;hV-*;>  
    0Yk$f1g  
    Nx;Oz  
    {3* Ne /  
    说明：透镜系统 , 3&D A  
    p 2>\  
    oypF0?!m  
     6/dP)"a('  
    说明：样品结构 T;M4NGmvd  
     vWH)W?2  
    g=na3^PL6  
    O<`N0  
    说明：探测器 Yq-Vwh/  
    B9: i.rQ  
    0{'m":D9  
    pwg\b  
    结果：3D光线追迹 V r7L9%/wg  
    &5y|Q?  
     Aa`R40yl  
    wBlo2WY  
    结果：场追迹矩形光栅 rqWD#FB=z  
    @@3%lr71   
    K2qKkV@  
      6hO]eS  
    结果：场追迹锯齿形光栅 Rn$TYCO  
    2 {xf{)hO?  
    $/kZKoF{f  
     
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