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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 ,'(|,f42  
    Y5GN7.  
    任务/系统描述 E"E(<a  
    YdCl  
     h2zSOY{su  
    Eq)b=5qrG?  
    亮点 ,9ueHE  
    QIkFX.^  
     s1_Y~<y X  
    ;&j'`tP  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 F\JS?zt2  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 RDbNC v#  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 6n2RTH  
    4xW~@m eNB  
    说明：光源 %_Vz0 D! 7  
    \2/X$x<?X  
    n8EKTuy  
    6h/!,j0:t_  
    说明：透镜系统 DL bP$&o  
    -I5]#%eX^  
    js"Yh  
     cY!Y?O  
    说明：样品结构 8 siP  
    Bdh*[S\u@E  
    6E) T;R(@  
    X{#^O/  
    说明：探测器 \/1~5mQ+  
    qY-aR;  
    "T5jz#H#/  
    zKP[]S-  
    结果：3D光线追迹 mfZbo#KS#v  
    3|$?T|#B  
     P7}w^#x  
    qE2<vjRg  
    结果：场追迹矩形光栅 '~ b  
    -!+i ^r  
    i-0 :Fs  
     LF.i0^#J  
    结果：场追迹锯齿形光栅 0i[t[_sce  
    7x`$ A  
    ]Yt3@ug_f  
     
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