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光学测量>显微 jft%\sY ye -o'%{ 任务/系统描述 5F@7A2ZR ]1A"l!yf
VieX5 nWTo$*>W 亮点 )&G
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R<}WNZl "qEi$a&] 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 mL\j^q,Y 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Y{].%xM5 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 rlj @' GCN( 说明:光源 l,FK\
Vf:w.G A Of)EBa<5^ //c<p 说明:透镜系统 13oR-Stj| . &dh7`l "NU l7ce.R j, SOL9yg 说明:样品结构 _xgF?# I]qml2 ~n)!e#p 7X3<8:% 说明:探测器 }-3|
v<d ;#np~gL &!I^m Evd>s 结果:3D光线追迹 Da#|}m0> 1}#(4tw)
*9"L?S(X# 19)fN-0Z 结果:场追迹矩形光栅 l26DPtWi [al, UO
FA 1E`AdU ,vBi)H 结果:场追迹锯齿形光栅 (<ybst6+I =}S*]Me5 65FdA-4
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