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光学测量>显微 ORXm&z) "1`Oh<={b 任务/系统描述 7!y5
SX8C "P-lSF?T
*=V7@o W|:lVAP.|} 亮点 !+)AeDc:j UO*Ymj
1
p[lNy{u~M +ISz?~8 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 <s5qy- 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <<](XgR( 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 `@[c8j7 B+C);WQ, 说明:光源 'I;!pUfVp /&F,V+x '0y9MXRT yme^b
;a 说明:透镜系统 ~c)~015` DypFl M* i
wxVl)QL 6hZ@;Q=b 说明:样品结构 P&m\1W( R8rfM?"W cLPkK3O\= t5)+&I2 说明:探测器 oI)GKA_Ng7 Yt|6
X:l ,QzL)W7 +dA ,P\ 结果:3D光线追迹 SS`qJZ|w
[aI]y=v
E9?phD ?(*t@
{k 结果:场追迹矩形光栅 h~{aGo H$G0`LP0/a DvvT?K ) ri}nL. 结果:场追迹锯齿形光栅 ?4H i- 2I*;A5$N1
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