切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 442阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6354
    光币
    25915
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 YKUb'D:t]  
    [{i"Au]  
    任务/系统描述 wb#ZRmx}  
    R;G"LT  
    YR 5C`o  
    r@O5{V  
    亮点 .qN|.:6a  
    isG8S(}IW&  
    _5t~g_(1OK  
    t-gLh(-.  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 !nBE[&  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 fj7\MTy  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 |g$n-t  
    !Qqi%  
    说明:光源 ,ce sQ ou  
    M2$.Y om[  
    I: L}7uA[t  
    ~l^Q~W-+  
    说明:透镜系统 #80 [q3  
    MR?5p8S#g  
    X0}+X'3  
    h:4Uv}Z  
    说明:样品结构 (/^s?`1{N?  
    x @a3STKT  
    _,ki/7{  
    _ddOsg|U  
    说明:探测器 >, 9R :X(  
    <73dXTZ0  
    <\fB+ AZ  
    C3]"y7  
    结果:3D光线追迹 sU=7)*$  
    }g9g]\.!a  
    BKV,V/*p  
    Bn<1zg5  
    结果:场追迹矩形光栅 9*<=K  
    :f/T $fa*  
    O u-/dE%  
    X1C &;5  
    结果:场追迹锯齿形光栅 zgnZ72%  
    6SqS\ 8  
    L|*0 A=6  
     
    分享到