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光学测量>显微 q+}KAk|]V WXzSf.8p| 任务/系统描述 ]`, jaD Sl7x>=
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IqW4Q1>f ~Y.I;EPKt 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 $/p/9 - 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !/;/ X\d 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 xS>d$)rIj |0Y:
/uL#) 说明:光源 UG5AFZ\ H/?@UJ5m `{GI^kgJ9 m2|%AD 说明:透镜系统 ]QbT%0 k/;%{@G) Vw>AD<Rl >L_nu.x 说明:样品结构 lH#C:n jr`;H }#Gq*^w 2 f8\Osn>m 说明:探测器 G9
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-EP\ ><Awk~KR d(X/N2~g Wq}Y|0c 结果:3D光线追迹 j'QPJ(`~1l ;ifPqLkO
j2GTo~muq w28&qNha 结果:场追迹矩形光栅 ZCC T hq|I%>y {IgLH`@ |mp~d<& 结果:场追迹锯齿形光栅 [0M`uf/u 92 oUQ EK y`Nprwb
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