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光学测量>显微 (exa<hh kfY}S 任务/系统描述 6iE<T&$3P |N 7M^
|&) dh< l4YJ c 亮点 !ons]^km k2tF}
7WS p($ FbFPJ !fb 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 BG]#o|KW 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 "_NN3lD)X 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 E]n&=\ Hd ={CFip 说明:光源 ,m|h<faZL F/kWHVHU[ T_5H&;a YZ8>OwQz2 说明:透镜系统 eJX9_6m- >jLY" /%1ON9o> <=/hil 说明:样品结构 DA,?} 8dIgjQX| :J&oX
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n>S#SZ 说明:探测器 4!yzsPJL ={&j07,*a Fq<A I-(zaqp@ 结果:3D光线追迹 mNTzUoZF'@ qqY"*uJ'
!?h;wR } (73Syl# 结果:场追迹矩形光栅 (iX+{a%" K
Z91- y?? XIsF =X:Y,? 结果:场追迹锯齿形光栅 dcN22A3 f46t9dxp$ xfe+n$~ c
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