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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 (uOW5,e7  
    sNvT0  
    任务/系统描述 B\|>i~u(  
    /_,~dt  
     Z;S*fS-_  
    :G^`LyOM  
    亮点 Hh;w\)/%j  
    W~k!qy `  
     ^&&dO*0{  
    DHt 8 f  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 wt2S[:!p  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ErESk"2t  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 RW(AjDM  
    )[oU|!@  
    说明：光源 no?)GQ  
    +7 F7Kh  
    8<n8joO0  
    42 p6l   
    说明：透镜系统 (dMFYL>YP  
    ZX'{o9+w5  
    V"$t>pAG  
     +{hxEDz  
    说明：样品结构 +"3eh1q[  
    -&)^|Atm  
    m9G,%]4|  
    Qlb@Az  
    说明：探测器 {+xUAmd  
    \)M 5o  
    l7s=b4}c  
    !-.-!hBN  
    结果：3D光线追迹 ePs<jrB<  
    ;g*X.d  
     hsqUiB tc6  
    ^<E+7  
    结果：场追迹矩形光栅 rG\m]C3E  
    MT6kJDyLu  
    /#:RYM'Tu  
     6km u'vw  
    结果：场追迹锯齿形光栅 Z;>~<#!4  
    >^-[Mpa(*  
    H <1?<1^  
     
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