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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 qYbPF|Y=Z  
    be(p13&od  
    任务/系统描述 yiAusl;  
    |n %<p  
     L.$+W}  
    q@ %9Y3  
    亮点 -FW'i10\2+  
    ;o?Wn=J  
     {3kI~s  
    A,f%0 eQR  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Yvxp(  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ghVxcK  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 }< m@82\  
    r57rH^Hc  
    说明：光源 w*qmC<D$A  
    pNzpT!}H>  
    *+>R^\uT  
    c[E>2P2-_  
    说明：透镜系统 * ~4m!U_s  
    ^ ^R4%C  
    RWK##VHK  
     oQ_n:<3X  
    说明：样品结构 *l\vqgv.Z  
    'P,F)*kh  
    Ykt(%2L  
    $jKeJn8,  
    说明：探测器 Q =cbHDB  
    MESPfS+  
    j,CMcP7A -  
    \`:LPe  
    结果：3D光线追迹 &m>txzo  
    6P:H`  
     tmf= 1M  
    #$(wfb9  
    结果：场追迹矩形光栅 | QI-gw  
    4!r> ^a  
    L7qlvS Q  
     DUK.-|a7  
    结果：场追迹锯齿形光栅 *tZ#^YG{(  
    dj0`Q:VZ  
    59I}  
     
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