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光学测量＞显微 p `qgrI` ef4 i :. 任务/系统描述 S_H+WfIHV' m8[j #=h
 G3T]`Atf 5b7RY V 亮点 Ny/MJ#Lq
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 iy.\=Cs$N (TM,V!G+U~ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 A04U /; 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 v 3>UV8c' 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 GM< 9p_
B jPkn[W#
6 说明：光源 <#4h}_xA% >H ,*H;6  GQ
;;bcj& YS_; OFsd 说明：透镜系统 &K,i
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6Kz,{F@ 说明：样品结构 lp8v0e4 '|=;^Z7.K  9lE_nc X@FN|Rdh 说明：探测器 Ax}JLPz5' \fe]c :  Flb&B1 aw> #P 结果：3D光线追迹 /Z4et'Lo gBD]}vo-
 c:.eGH_f *P g2c(Vg 结果：场追迹矩形光栅 =2x^nW oP.7/*p  \l 3h0R
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结果：场追迹锯齿形光栅 wz8yD8M  FVBYo%Ap fF kj+
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