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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 q+}KAk|]V  
    WXzSf.8p|  
    任务/系统描述 ]`,jaD  
    Sl7x>=  
    -4IHs=`;I  
    2\/,X CQV  
    亮点 +91j 1?  
    Un[ 0or  
    IqW4Q1>f  
    ~Y.I;EPKt  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 $ /p/9 -  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !/;/ X\d  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 xS>d$)rIj  
    |0Y: /uL#)  
    说明:光源 UG5AF Z\  
    H/?@UJ5m  
    `{GI^kgJ9  
    m2|%AD  
    说明:透镜系统 ]QbT%0  
    k/;%{@G)  
    Vw>AD<Rl  
    >L_nu.x  
    说明:样品结构 lH#C:n  
    jr`;H  
    }#Gq*^w  
    2f8\Osn>m  
    说明:探测器 G9 g -EP\  
    ><Awk~KR  
    d(X/N2~g  
    Wq}Y|0c  
    结果:3D光线追迹 j'QPJ(`~1l  
    ;if PqL kO  
    j2GTo~muq  
    w28&qNha  
    结果:场追迹矩形光栅 ZCC T  
    hq|I%>y  
    {IgL H`@  
    |mp~d<&  
    结果:场追迹锯齿形光栅 [0M`uf/u  
    92 oUQ EK  
    y`Nprwb  
     
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