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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 :O}<Q  
    RsDI7v  
    任务/系统描述 $yb8..+  
    @V-CG!  
     b511qc"i>M  
    dfq5P!'  
    亮点 $T0|zPK5  
    Mhw\i&*U  
     [}_ar  
    |KC3^  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Lsozl<@  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 3,B[%!3d  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ;3_Q7;y  
    T't^pO-`  
    说明：光源 l9.wMs*`X  
    P5P<-T{-c  
    b\\?aR |  
    Va/ p   
    说明：透镜系统 k\}qCDs  
    3^us;aOr  
    zj;y`ENj  
     &[KFCn  
    说明：样品结构 Q\:'gx8`  
    Ve8`5  
    u;:N 4d=f'  
    6C/D&+4  
    说明：探测器 LVLh&9  
    J:mOg95<  
    rd 1&?X  
    #PA"l` "  
    结果：3D光线追迹 ;o3 .<"  
    /HDX[R   
     I|O~F e.  
    tY :-13F  
    结果：场追迹矩形光栅 95wV+ q*  
    M=N`&m\  
    r%'2a+}D  
     Gz@%UIv  
    结果：场追迹锯齿形光栅 nhCB ])u8l  
    8a)EL*LH`  
    $ 9DZ5"  
     
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