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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 qzHU)Ns(_  
    ( mt*y]p?  
    任务/系统描述 n5\}KZh  
    W W35&mI)k  
     g<a<{|  
    D=JlA~tS>  
    亮点 ;da4\bppt  
    c l9$g7  
     IF e+ B"  
    Yu;9&b  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 FF jRf  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 V4Qz*z%  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 d96fjj~  
    ]h0Y8kpd  
    说明：光源 )Z&HuEg{ZR  
    +dJ&tuL:S  
    Z]7tjRvq)  
    oHk27U G  
    说明：透镜系统 r;$r=Ufr  
    qNy-o\;XN  
    sX Z4U0 #  
     py=i!vb&Z%  
    说明：样品结构 0a@c/ XGBp  
    ,, 7.=#  
    Eh:yR J_8  
    1B(G]o_>!  
    说明：探测器 OFp#<o,p  
    +~:x}QwGT  
    -G FwFkWm  
    q{[1fE"[K4  
    结果：3D光线追迹 d;<.;Od$`  
    k5q(7&C  
     |MVV +.X  
    'Z y{mq\  
    结果：场追迹矩形光栅 g4i #1V=  
    JOPTc]  
    8pd&3G+  
     3eJ\aVI>pE  
    结果：场追迹锯齿形光栅 KoFv0~8Q  
    M*v^N]>"G  
    sFCf\y  
     
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