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光学测量＞显微 l$KC\$?%* W =YFe<Q 任务/系统描述 ~ _C[~- n"YY:G m;8
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<4, hrx&. 亮点 wYnsd7@I
RR h0G>*
 :wiQ^ea d~f_wN&r 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 >r+Dl\R 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 P,y*H_@k 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 "&;>l<V emp*j@9 说明：光源 ER0nrTlB< rlSar$  #({0HFSC:j ((i%h^tGa; 说明：透镜系统 Pg[XIfBva 4%L`~J4 wr  G+Ft2/+\
A[QUFk( 说明：样品结构 9W3zcL8 I}JC ~=`j  *?'n A{a)E 7b7~D +b 说明：探测器 tU2 8l.
0BF'@r";  uan%j]|q% R;+vE'&CO 结果：3D光线追迹 :o$k( X7a yPG,+uQ$.
 !{'C.sb?~ Fj? Q4_ 结果：场追迹矩形光栅 bup)cX^ $X1T!i[.X  ~ ,[<R
olc7&R 结果：场追迹锯齿形光栅 *x[ZN\$`Y  'Rbv3U Pn:L=*
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