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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微  ]ltCJq  
    QG*hQh  
    任务/系统描述 1;/SXJ s  
    ^(TCUY~f&  
     SPV+ O{  
    edMCj  
    亮点 c$  /.Xp  
    Gt*<Awn8  
     'b.jKkW7  
    TIJH} Ri  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 0hoMf=bb$  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 US)i"l7:H*  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 V<9L-7X 8  
    Tg^8a,Lt  
    说明：光源 ^Z)7Z% O  
    +~V_^-JG&  
    >IS4  
    1T#-1n%[k(  
    说明：透镜系统 Ze%S<xT!O  
    FC+-|1?C  
    fcdXj_u  
     D N!V".m`J  
    说明：样品结构 RP2$(%  
    M<Bo<,!ua  
    ^!B]V>L-  
    3YLK?X8  
    说明：探测器 Ct `)R  
    C1{Q 4(K%  
    h.?<( I  
    YQD `4ND  
    结果：3D光线追迹 <p<6!tdO  
    lai@,_<GV  
     U)'YR$2<  
    GOxP{d?  
    结果：场追迹矩形光栅 <,DMD  
    \'=svJ   
    =A5i84y.2u  
     9%kO%j,3  
    结果：场追迹锯齿形光栅 tfHr'Qy BC  
    ?MywA'N@x  
    ^N7cXK*  
     
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