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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 SQliF[-  
    sd=i!r)ya  
    任务/系统描述 iBc( @EJ  
    hZ%Ie%~n  
     Cd (Ov5%  
    'Oq}BVR&  
    亮点 |g7E*1Ie  
    7g=Ze~aq  
      D}_\oE/n  
    `HHbQXB  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 3kJAaI8   
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ~=c#Ff =Z  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 k|BEAdQ%M  
    F 6SIhf.;  
    说明：光源 d$>1 2>>  
    5[;^Em)C  
    n'R 8nn6^  
    CwT52+Jb  
    说明：透镜系统 20K<}:5t1  
    "7gHn0e>  
    i1scoxX3\  
     .2u%;)S  
    说明：样品结构  EGV@L#  
    ~JBQjb]  
    gzuM>lf*{  
    \;g{qM 8  
    说明：探测器 HM<V$ R  
    j7i[z>:Y  
    D'</eJ  
    v_Jp 9  
    结果：3D光线追迹 578Dl(I#)  
    w%L0mH2]ng  
     8^HMK$  
    R (hq Ba/V  
    结果：场追迹矩形光栅 |&C.P?q  
    kWr*+3Xq  
    8mMrGf[Q\  
     ";xG[ne$Be  
    结果：场追迹锯齿形光栅 !WrUr]0IP  
    =n$,Vv4A  
    G*n5`N@>7  
     
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