切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 527阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6613
    光币
    27214
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 %" 7UYLX  
    8K?}!$fz  
    任务/系统描述 YCh`V[0  
     MiIxj%,(  
    ~{tO8 ]  
    ){w{#  
    亮点 #jrlNg4(  
    _^#eO`4"  
    *2->>"kh  
    oJr+RO  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 m2jts(stp  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Z>bNU  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 U364'O8_  
    xZ P SUEG  
    说明:光源 su%-b\8K  
    9!Q ZuZY  
    Ht(TYq  
    g^(gT  
    说明:透镜系统 Wn+s:o v  
    '~K]=JP  
    8Iw)]}T'  
    `| ?<KF164  
    说明:样品结构 W1X3ArP]m8  
    $j\>T@  
    UIyLtoxu  
    1L4-;HYJm  
    说明:探测器 QJ;dw8  
    ah,f~.X_|  
    UHvA43  
    c,.@Cc2  
    结果:3D光线追迹 4~h 0/H"  
    ~S Bb2*ID  
    qzbW0AM[M  
    ZAn @NA=  
    结果:场追迹矩形光栅 /\-}-"dm  
    ajk}&`Wj"  
    AZc= Bbh  
    *cXq=/s  
    结果:场追迹锯齿形光栅 ^rO"U[To  
    2K};-}eW  
    &lSNI5l  
     
    分享到