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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 6Q Zp@  
    vhgLcrn  
    任务/系统描述 :dnJY%/q  
    8@\7&C(g17  
     eV};9VJ$F  
    ;[ 'a  
    亮点 Es4qPB`g.  
    w0J|u'H  
     8%:]W^  
    9pD 7 f`  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Q[u6|jRt  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 p]T"|!d  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 1hmc,c  
    [f{VIE*?%  
    说明：光源 @cD uhK"U}  
    diT=x52  
    V5mTu)tp5  
    tWPO]3hW  
    说明：透镜系统 \>Zvev!s  
    zfI}Q}p  
    ftbpqp'  
     6lFfS!ZFA  
    说明：样品结构 MuI2?:~:*4  
    RHY4P4B<v>  
    #"*e+.j[;  
    el PE%'  
    说明：探测器 ip:LcGt  
    ~mp0B9L%  
    3Ofc\  
    rofNZ;nu  
    结果：3D光线追迹  IDFFc&  
    [2c{k  
     vqdX^m^PY  
    []pN$]+c  
    结果：场追迹矩形光栅 `BXS)xj  
    R9o-`Wz  
    7/Il L  
     `` K#}3  
    结果：场追迹锯齿形光栅 W;_E4  
    YwDt.6(+,  
    MgMD\  
     
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