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光学测量＞显微 ~|!lC}!IKL F% |(pHk 任务/系统描述 }ps6}_FE 5s|g K M
 v ]1rH$ AUq?<Vg\ 亮点 A6Qi^ TI
1 h"B-x
 2KX *x_- lwB!ti 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 b13>>'BMB 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 KG?]MVXA 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 u/zfx ;K &vn9l#\( 说明：光源 .KD07 aD:+, MZ  ["7}u^z@<+ R3<+z 说明：透镜系统 $pKS['J0 !`Wu LhB`  =os j}(
+(<f(]bG 说明：样品结构 BKTsc/v2>: ^q6~xC,/  |
jkmh6 g$tW9 Q 说明：探测器 Il642#Gh v$c D !`+k  'K!kJ9o qe 8?$2;uGL 结果：3D光线追迹 Gg+>_b{S5T GB=q}@&8p
 7Mf T~v ev3x*}d0 结果：场追迹矩形光栅 #.@=xhK/ 8+ u8piG  oK>,Md B
`4=b|N+b" 结果：场追迹锯齿形光栅 a !IH-XJ2  2*M*<p=v 
