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光学测量＞显微 sRI8znus S@-X?Lu 任务/系统描述 1 H@F>}DP -q|M=6gOs
 T5G+^XDA Py<vN! 亮点 x 9s` H)
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 /t P {a%cU[q 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 U t@)<N 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 n& &y\?n 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ?q`mr_x%? +O 6@)?pI 说明：光源 {'C74s
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y>8k(  H-lRgJdc Pw1H) <X
说明：透镜系统 X / "H+l Id1[}B-T
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|[ofc!/ 说明：样品结构 > xw+2<
rR;Om1 -,  #y% Ao\~kG {'[1I_3 说明：探测器 H8U*oLlc #{sb>^BF  YSmz)YfX9 S?$T=[yY) 结果：3D光线追迹 .quc i(D E> v~B;@
 G&-h,"yo^ ['<rfK 结果：场追迹矩形光栅 `dhK$jYD Dr609(zg^  Joj8'
/8R1$7 结果：场追迹锯齿形光栅 : =@[FXD4  >[U$n. yE> DQ *
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