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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 >c.HH}O0W  
    >IHf5})R  
    任务/系统描述 LsNJ3oy  
    42 Sk`  
     s4>xh=PoJ  
    1JN/oq;  
    亮点 k? =_p6>  
    *JVJKqed  
     66cPoG  
    !Ly1!;<  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 2|LkCu)~,"  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 .?.Q[ic  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 8wA'a'V.  
    S;S_<GX  
    说明：光源 ^os|yRzV*M  
    L!kbDbqn  
    %:[Y/K-   
    L@6T~  
    说明：透镜系统 PWs=0.Wj  
    )9>E} SU/  
    M \3Zj(E/  
     ;]SP~kG  
    说明：样品结构 h-[FUPfuw  
    j0[9Cj^%c  
    CEp @-R  
    :[7.YQ   
    说明：探测器 8p~G)J3U  
    `?:X-dh_  
    {V~G r  
    h^"OC$  
    结果：3D光线追迹 4 g^oy^~  
    {H%1sI  
     :u>9H{a  
    /*5lO;!s{  
    结果：场追迹矩形光栅 t@\op}Z-M  
    KN9e""  
    )s4a<S c]  
     sj0{;>>%+N  
    结果：场追迹锯齿形光栅 Y:} !W  
    !o&b:7  
    gT~Yn~~b  
     
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