切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 382阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    6066
    光币
    24483
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 nV/8u_  
    9W^sq<tR  
    任务/系统描述 G$#Q:]N  
    R/!lDv!  
    E}^np[u7  
    >"LHr&;m&h  
    亮点 *\#/4_yB}  
    TcW-pY<N  
    0L->e(Vf7u  
    d|I_SI1  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 G =`-w  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 i rjOGn  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 6Jrw PZB  
    ALcin))+B  
    说明:光源 ;Dh\2! sr  
    7j,-o  
    8'K~+L=}  
    j-~x==c-;  
    说明:透镜系统 [{!K'V  
    (Dat`:  
    '=s{9lxn^  
    >(EC.ke  
    说明:样品结构 =g.R?H8cj5  
    KU]co4]8^s  
    w!/\dqjv  
    0B}O&DC%|  
    说明:探测器 J&P{7a  
    2/WtOQI B  
    RB\ Hl  
    V/.Na(C~  
    结果:3D光线追迹 CdEQiu  
    vl`Qz"Xy  
    }na0  
    h.Y&_=Gc  
    结果:场追迹矩形光栅 $ol]G`+  
    ~^{>!wU+  
    nrBpq  
    8ln{!,j;  
    结果:场追迹锯齿形光栅 /EIQMZuYp  
    ]!c59%f=  
    enC/@){~  
     
    分享到