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光学测量>显微 nV/8u_ 9W^sq<tR 任务/系统描述 G$#Q:]N R/!lDv!
E}^np[u7 >"LHr&;m&h 亮点 *\#/4_yB} TcW-pY<N
0L->e(Vf7u d|I_SI1 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 G
=`-w 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 irjOGn 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 6JrwPZB ALcin))+B 说明:光源 ;Dh\2! sr 7j,-o 8'K~+L=} j-~x==c-; 说明:透镜系统 [{!K'V (Dat`: '=s{9lxn^ >(E C.ke 说明:样品结构 =g.R?H8cj5 KU]co4]8^s w!/\dqjv 0B}O&DC%| 说明:探测器 J&P{7a 2/WtOQIB RB\
Hl V /.Na(C~ 结果:3D光线追迹 CdEQiu vl`Qz"Xy
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h.Y&_=Gc 结果:场追迹矩形光栅 $ol]G`+ ~^{>!wU+ nrBpq 8ln{!,j; 结果:场追迹锯齿形光栅 /EIQMZuYp ]!c59%f= enC/@){~
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