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光学测量>显微 ^S`c-N uI[lrMQYa 任务/系统描述 BhJ~ jV" V0
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#bLeK$ eTa[~esu. 亮点 NvlG@^&S rB%acTCz=[
lV !@h}mG X*C4NF0 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 3&JsYQu 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 +EgQj*F* 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 :j,e0#+sA BI6o@d;=4 说明:光源 ^?tF'l` +hS}msu' Lpdp'9>I xpVYNS{c+| 说明:透镜系统 enT.9|vm/ T|[o O ijG@bI8 bKH8/*Yk 说明:样品结构 -xf=dzm) ~3 z10IG Nl1v*9_x "-TIao# 说明:探测器 SuW_[6] KArnNmJ9 aOj5b>> qN_jsJ 结果:3D光线追迹 z|SLH<~ RyxIJJui
`+QrgtcEy4 8f | 结果:场追迹矩形光栅 u]ZCYJ> !g~xn2m$R `7|v KyAQzN 9 结果:场追迹锯齿形光栅 ZUMzWK5Th L+s,,k X Jy]d/
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