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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 JJu}Ed_  
    Zl{ DqC^  
    任务/系统描述 Tu-I".d+  
    fP;2qho  
     ~Ut?'}L( d  
    ;-!O+c  
    亮点 s Vg89I&  
    9RJFj?^"  
     p@%H. 5&&  
    mZ4I}_\,  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 &|c] U/_w  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 js)I%Z  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 !E_RD,_  
    `lN Z|U  
    说明：光源 ?oQAxb&  
    + wF5(  
    B}npom\tC  
    yrV]I(Xe  
    说明：透镜系统 HOlMj!.  
    f4&k48Ds  
    Q7SRf$4  
     d6{0[T^L  
    说明：样品结构 QS2~}{v  
    & 6~AY :0r  
    r9$7P?zm  
    YveNsn  
    说明：探测器 9Q:}VpT~nG  
    lBfG#\rdW~  
    tk'3Q1L  
    uU#e54^  
    结果：3D光线追迹 ~+Ows  
    CUa`#  
     %y R~dt'  
    zq4)Uab*  
    结果：场追迹矩形光栅 fg~9{1B  
    =\)qUs\z  
    WkK.ON^  
     e% .|PZ)  
    结果：场追迹锯齿形光栅 A.(xa+z?  
    i-31Cxb  
    FHbw &  
     
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