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摘要 Hf2_0wA3 yYA$I'Bm\ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 /t$d\b17pX aj{Y\
3L 建模任务 .4!=p*Y vV-`jsq20H 6mxfLlZ 元件倾斜引起的干涉条纹 Z,Dl` w I:1C8*/ T}v4*O., 元件移位引起的干涉条纹 bP&]!jZ =MDysb&:
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