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摘要 ^KbL
,T 'g hys1H 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 G|*G9nQ /tZ0
|B( 建模任务 ~)?|J #1gO?N(<= N571s 元件倾斜引起的干涉条纹 6@YH#{~Zpv *V DVC0R dlR_ckp 元件移位引起的干涉条纹 `XgFga) PS}73Y#
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