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摘要 +pqbl*W;1 Y^Buz<OiG 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 8*u'D@0 %U{sn\V 建模任务 I%r7L C{/U;Ie-b #a=]h}&1? 元件倾斜引起的干涉条纹 A^,ul>!
3g!Z[SZ KX~
uE6rX 元件移位引起的干涉条纹 5V/&4$.U! =? !FO'zt"
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