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摘要 jj&4Sv#> b5v6Y:f&fK 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Y3J;Kk#AH y_Tc$g~ 建模任务 `AO<r -<0PBl D]UqM<0Rz 元件倾斜引起的干涉条纹 ZX
Sl+k. ^ew<|J2,B 8%;K#,> 元件移位引起的干涉条纹 qK9\oB%s7 e~wJO~
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