切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 367阅读
    • 0回复

    [技术]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-09-19
    摘要 c`Cn9bX  
     c eX*|B@=  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 XQPJ(.G  
    ~>|U%3}]  
    建模任务 + u+fEg/A  
    cm<3'#~Q?  
    pcG q  
    元件倾斜引起的干涉条纹 R& A.F+Zgt  
    8a {gEZT,  
    [%y D,8  
    元件移位引起的干涉条纹 Q[^d{e*l  
    MJoC*8QxM  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表