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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 :t2B^})\  
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                                `$-lL"  
    :dDxxrs"  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 /2h][zrZ[.  
    %CT!$Y'n  
    建模任务     |s`Kd-'|q  
    MFTC6L+T  
    :QKb#4/8;  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 .;slrg(5F  
    ~V$ f #X  
     OROqT~6G  
    '49L(>.  
    图层矩阵解算器 m"-G6BKS  
    r~[B _f!  
     0P9Wy!f7  
    <bX 1,}?  
    E$T(Qu<-  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 DR{] sG  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 5&qY3@I7l  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 [|<EDR  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {]M>Y%j48  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     B"[{]GP BY  
    :A*0]X;  
    更多的信息： ]Wy.R6  
    xOM_R2Md  
    总结-组件 9}XT'+`y  
    ^^ j/  
    fKYKW?g;)Z  
     R .UumBM  
    xSOoIsL[  
    两条光谱线的可视化 uTw|Q{f  
    s*+ZYPk  
     8GW ut=D  
    精细vs.涂层反射率 r./z,4A`  
    4ac1m,Jlt  
    `uhL61cMp  
    O3&|}:<  
    精细度vs.涂层反射率 y&3TQ]f\  
    :H3(w|T/  
    .h!9wGi`  
    内部谐振增强     ^Yr|K  
    :o<N!*pT  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 rr)9Y][l}  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 xBt<Yt"  
    +/}_%Cf8  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Fu mn9  
    iBS0rT_  
    VirtualLab Fusion技术 L77EbP`P  
    }JH`' &3  
     v0u\xX[H;  
     
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