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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Er|j\(jM  
    5KW n>n  
                          
    rfOrh^  
    /U="~{*-R  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 `m\ ?gsw7  
    dZ Ab' :  
    建模任务
    (]$&.gE.F  
    /KhY,G'Z  
    ~/!jKH7`j  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 `rpmh7*WV  
    ?$=Ml$  
    5Z[HlN|-!  
    }sM_^&e4X  
    图层矩阵解算器 \o5/, C  
    W\O.[7JP  
    &7KX`%K"D  
    uC?/p1  
    $Q`\-  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 G4"n`89LK  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Hm_&``='  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 p e$WSS J  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 fjHd"!)3  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    #^w8Y'{?  
    ;MW=F9U*  
    更多的信息: Xliw(B'\a4  
    N._^\FRyn  
    总结-组件 W1[C/dDc  
    }KV)F,`  
    r: ,"k:C  
    P]4@|u;=6[  
    l(~NpT{=V  
    两条光谱线的可视化 L F!S`|FF  
    8zpTCae^=7  
    Wbi12{C  
    精细vs.涂层反射率 XpdjWLO]C<  
    Y~U WUF%aK  
    dbfI!4  
    kj`h{Wc[)  
    精细度vs.涂层反射率 F ZfhiIf  
    vcSb:('  
    xgWVxX^)  
    内部谐振增强
    K# h7{RE  
    cFoeyI#v  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 {QT:1U \.  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 =@.5J'!  
    "=UhTE  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心  R'aA\k-  
    2XV3f$,H  
    VirtualLab Fusion技术 KvlLcE~`o  
    HG)h,&nc-  
    jk5C2dy  
     
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