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摘要 Er|j\(jM 5KW
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rfOrh^ /U="~{*-R Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 `m\ ?gsw7 dZAb': 建模任务 (]$&.gE.F /KhY,G'Z
~/!jKH7`j 具有高反射(HR)涂层的标准具 `rpmh7*WV ?$=Ml$
5Z[HlN|-! }sM_^&e4X 图层矩阵解算器 \o5/, C W\O.[7JP
&7KX`%K"D uC?/p1 $Q`\- 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 G4"n`89LK 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Hm_&``=' 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 p e$WSS J 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 fjHd"!)3 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 #^w8Y'{? ;MW=F9U* 更多的信息: Xliw(B'\a4 N._^\FRyn 总结-组件 W1[C/dDc }KV)F,`
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P]4@|u;=6[ l(~NpT{=V 两条光谱线的可视化 LF!S`|FF 8zpTCae^=7
Wbi12{C 精细vs.涂层反射率 XpdjWLO]C< Y~UWUF%aK
dbfI!4 kj`h{Wc[) 精细度vs.涂层反射率 FZfhiIf vcSb:('
xgWVxX^) 内部谐振增强 K# h7{RE cFoeyI# v 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 {QT:1U\. 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 =@.5J'!
"=UhTE 注意: 传输值取自艾里图案的中心 R'aA\k- 2XV3f$, H VirtualLab Fusion技术 KvlLcE~`o HG)h,&nc-
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