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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 E~!$&9\  
    d"wA"*8~y  
                          
    Ji4p6$ .j-  
    BWt`l,nF  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ^Q/*on;A,/  
    p3s i\Fm!  
    建模任务
    c%H' jB [  
    ,AP&N'  
    9YzV48su#  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 eqx }]#  
    Et=Pr+Q{c  
    TnrBHaxbo4  
     wJp<ZL  
    图层矩阵解算器 ?cU,%<r  
     a"Qf  
    ?UnQ?F(+G<  
    `7 "="T~ *  
    4G&`&fff]  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 a4Q@sn;]  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ?ZF):}r vZ  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 fG0?"x@>  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 zsL@0]e&  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    -/f$s1  
    fdl.3~.C  
    更多的信息: c_8&4  
    0ho;L0Nr'  
    总结-组件 [WwoGg*)mn  
    K_i|cYGV  
    HuhQ|~C+~  
    v~$ V  
    \xYVnjG,  
    两条光谱线的可视化 jn(x-fj6R  
    vsGKCrLwh  
    7|,L{~  
    精细vs.涂层反射率 xyL"U*  
    +nYFLe  
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    ^rWg:fb  
    精细度vs.涂层反射率 %>+uEjbT  
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    &Ok1j0~~  
    内部谐振增强
    -FZC|[is  
    "\4W])30  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 F#Lo^ 8  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 PTe L3L  
    6tKrR{3#A  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 7;jD>wp 9D  
    ,i:?c  
    VirtualLab Fusion技术 q/O2E<=w*c  
    [LoQYDku  
    =j.TDv'^nd  
     
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