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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 (niZN_qv  
    dam.D.o"  
                               4z#CkT  
    +(PtOo.  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 QHP^1W`  
    aFIet55o  
    建模任务     lCd^|E  
    =\CbX  
    &_q;X;}  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 +=\S"e[F  
    [0/?(i|  
     )I1LBvfQ  
    o|^0DYb  
    图层矩阵解算器 86R}G/>>e  
    @VxBURZ?  
     u:g(x+u4:  
    rQKBT]?y  
    i;/qJKr&#  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 N#T MU  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 9 *]Z  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 >f`}CLsY  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 8Yb/ c*  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     H{yPi7 P  
    Q=uwmg86  
    更多的信息： F4bF&% R  
    v^,A~oe`t  
    总结-组件 `e`4[I  
    pKr3(5~  
    I62Yg p$K  
     Qf=%%5+?8  
    ZJR{c5TE  
    两条光谱线的可视化 nr s!e  
    HL88  
     v]!|\]  
    精细vs.涂层反射率 WY*}|R2R  
    _r^&.'q  
    ^QYI`u`4  
    ?#FA a,  
    精细度vs.涂层反射率 {K[+nX =#  
    YRC`2)_'  
    jj.]R+.G  
    内部谐振增强     ^.-P]I]  
    Dt r'X@U  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .3ic%u;|D  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 3FX` dZ  
    NiyAAw  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 [FC%_R&&  
    (MxLw:AV  
    VirtualLab Fusion技术 J~c]9t  
    1 ViDS  
     Gi{1u}-0  
     
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