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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 7n+,!oJ  
    #Er"i  
                          
    6KXW]a `  
    ,tg(aL  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 o8hE.pf&  
    P B5h5eX  
    建模任务
    "bWx<  
    S $o1Q  
    gFu,q`Vf*  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 >7~*j4g  
    y;<suGl  
    -/0\_zq7  
    M*Ej*#  
    图层矩阵解算器 m.! M#x2!  
    1sonDBd0@;  
    h{$k%YJ?  
    X  u HR  
    (c^ {T)  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 <p/2hHfiD  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 $?]`2*i  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 KRcB_(  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /`DKX }  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    cL;%2TMk  
    ~K<h~TNP  
    更多的信息: HuU$x;~  
    @o^$/AE?  
    总结-组件 pL`Q+}c}  
    J[hmY=,  
    vTK8t:JQ~  
    }Bsh!3D<.  
    Z~8%bfpe  
    两条光谱线的可视化 H-v[ShE  
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    bDJ!Fc/  
    精细vs.涂层反射率 ``$$yS~d};  
    6DK).|@$r  
    vR2);ywX  
    rwP)TJh"  
    精细度vs.涂层反射率 Qzo -Yw`=  
    ~_N,zw{x  
    XM w6b*O  
    内部谐振增强
    !X~NL+  
    v {uq  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 dg|x(p#  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 fR'!p: ~  
    ]sL.+.P  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 v~T)g"_|  
    "c]9Q%  
    VirtualLab Fusion技术 K\XQ E50  
    E QU@';~8  
    fKqr$59>  
     
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