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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Q*9Y.W.8  
    EiPOY'  
                               6"2IV  
    F ^)( 7}ph  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Vo(bro4ZQi  
    Cv< s|  
    建模任务     6^,;^   
    Nfd'|#  
    Y";K WA}b  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 MVDy|i4  
    .bNG:y>  
     N1JM[<PP  
    xQxq33\  
    图层矩阵解算器 B*}:YV  
    1(WBvAPS  
     ._6Q "JAB  
    K#x|/b'5d  
    N}'2GBqfU4  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 15kkf~Z<t  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 &Y 2Dft_K  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 D1wONss  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 7J|nqr`>t  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     %vRCs]  
    +DYsBCVbag  
    更多的信息： ~Vf A  
    |0VZ1{=*  
    总结-组件 $AdBX}{  
    d*LW32B@  
    !{b4+!@p  
     O&@CT])8  
    |}o3EX  
    两条光谱线的可视化 Upz?x{>x  
    Oh,]"(+  
     B|r'  
    精细vs.涂层反射率 ZDmY${J  
    :c9 H2  
    ^MvBW6#1  
    e_IRF+>  
    精细度vs.涂层反射率 5Rae?* XH  
    JD]uDuE  
    ,k}(]{ -  
    内部谐振增强     aqv'c j>  
    9<5S!?JL  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 V}Ce3wgvA  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 L fZF  
    M[QQi2:&  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 #j)"#1IE2W  
    D"&Sd@a{  
    VirtualLab Fusion技术 )Cd.1X8  
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