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摘要 3iwoMrp Mipm&5R
ne!j%9Ar _D7HQ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 `JY>v io B
$ y44 建模任务 LX(iuf+l .yFg$|y G
5CRc]Q#@ 具有高反射(HR)涂层的标准具 fY,@2VxyfA 7(+OsE
#(26t _a r0hta)xa 图层矩阵解算器 (to/9OrG mvL0F%\.\
_($-dJ{ ,XBV }y #<WyId( 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 yG4LQE 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 o?Tp=Ge 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 HhY2`P8 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 0,L$x*Nj5 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 xj00eL tmY-m,U 更多的信息: 23u1nU[0 ;SlS!6.W- 总结-组件 eB/hyC1 N`|Ab(.
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yZ(Nv $[5 K^cWj_a" 两条光谱线的可视化 SFk11 5(MZ%-~l
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jocfTBk 精细vs.涂层反射率 n.8A
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X5oW[ A2O_pbQti 精细度vs.涂层反射率 @|UIV tx1m36a"
tm36Lw 内部谐振增强 |<Dx E[Ws} n. 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 l^eNZ3:H 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 fe9& V2Uu
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?[cD 注意: 传输值取自艾里图案的中心 pv?17(w(\ 3f2Hjk7,d VirtualLab Fusion技术 1PTu3o&3 t>h
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