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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 jF*j0PkNdb  
    5*D/%]YsD  
                               C"enpc_C/  
    01o4Th m  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 kO-(~];  
    ws^ np  
    建模任务     C{wEzM :  
    N)>ID(}F1  
    t&Og$@  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 A. w:h;7  
    >&#)Tqt!?  
     !5?<% *  
    ^/=KK:n~  
    图层矩阵解算器 6\S~P/PkE  
    ;ovP$ vl>  
     &]-DqK7  
    j 1HW._G  
    XBw)H  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 9Lfv^V0  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 4I5Y,g{6+  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 -s'-eQF J  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 d*Fj3Wkx  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     pcI uN  
    Nl(Foya%)  
    更多的信息： HLHz2-lI  
    $xdy&  
    总结-组件 _t}WsEQ+P  
    {2 "zVt#h  
    `pZm?}K  
     ##4HYQ%E  
    !FFU=f  
    两条光谱线的可视化 B^jc3 VsR  
    k+l b@!  
     b*Q&CL  
    精细vs.涂层反射率 ?5 [=(\/.  
    ?#Q #u|~  
    _2 osV[e  
    ges J/I  
    精细度vs.涂层反射率 ZWp(GC1NA  
    >~+ELVB&  
    % +\. " eC  
    内部谐振增强     YkQd  
    s=/v';5J2!  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |)/aGZ+  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 4]}'Hln*U  
    @49S`  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 )TM4R)r%)9  
    r0 uwPf  
    VirtualLab Fusion技术 tcog'nAz  
    #@nezu2  
     K@w{"7}  
     
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