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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 1F$a My?  
    z?yADYr9  
                               Ay2|@1e  
    [IHT)%>E8&  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 63k8j[$  
    9OTw6  
    建模任务      w[VWk  
    Yq2 mVo  
    \x|(`;{  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 }7&;YAt  
    p?d Ma_ g  
     %GHHnf%2Z  
    .JH3,L"S^  
    图层矩阵解算器 %r|fuwwJO  
    xXHz)w  
     2o/AH \=2  
    a_pkUOu6  
    #xts*{u-#  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 n*-#VKK^  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 j)J4[j  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 wN*e6dOF  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。  -EITz  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     43 |zjE  
    w0Us8JNGz  
    更多的信息： F.T~txQ~u  
    xat)9Yb}0  
    总结-组件 gA.G:1v  
    ;2bG-v'4vO  
    N|Rlb5\  
     tuUk48!2I  
    v&uIxFCR  
    两条光谱线的可视化 hbN*_[  
    tCA |sN  
     =Ybbh`$<  
    精细vs.涂层反射率 F\>`j   
    g#Yqw  
    A0&~U0*(~  
    {Y\hr+A  
    精细度vs.涂层反射率 )zr/9aV  
    r:YAn^Lg  
    $\0j:<o  
    内部谐振增强     >5]Xl*{H)  
    Lw-j#}&6E  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9}3W0F;  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 o#w6]Fmc  
    0Z9jlwcQ  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 V ;>{-p  
    (-"A5(X:/  
    VirtualLab Fusion技术 QmgwIz_  
    ztb2Ign<  
     Fbk<qQH  
     
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