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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 ! ,0  
    *U}ztH-+/  
                               J"Fp),  
    Qm=iCZ|E^!  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 hzU(XW  
    ^KnK \  
    建模任务     5^R?+<rd  
    ef)zf+o  
    a6Joa&`dv  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 t-5 Y,}j  
    c%bzrYQvA;  
     n @,.  
    cRuN;  
    图层矩阵解算器 w0+X;aId  
    B=$O4nW_b  
     O;5lF  
    Y%?*Lj|  
    =LODX29  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 c&x1aF "B  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 [ [w |  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Nu OxEyC  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 U82mO+}  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     )0]U"Nf ho  
    #vhN$H:&q  
    更多的信息： QxN1N^a0  
    Fi;H   
    总结-组件 /%s:aO  
    H9PnJr8 \  
    .c:h!-D;  
     ,Si{]y  
    hF$qH^-c*A  
    两条光谱线的可视化 N>,`TsUwW  
    pkae91  
     Lr 5{c5M  
    精细vs.涂层反射率 W &:0J  
    0?( uqjD:  
    <9piKtb|L  
    T1*.3_wtP  
    精细度vs.涂层反射率 wwywiFj  
    zA8@'`Id  
    -B9e&J {K  
    内部谐振增强     K5|~iW'  
    )XGz#C_P  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 1+WVh7gF  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 jU7[z$GX  
    |/^S%t6*  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 )dqNN tS  
    (3lA0e`Y  
    VirtualLab Fusion技术 ]wdE :k,D  
    KYtCN+vsG  
     '?mF,C o{  
     
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