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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 +N]J5Ve-`t  
    B5,N7z34F  
                               [@_Jj3`4  
    OW&!at  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 1>.Ev,X+e  
    WSP I|#Xr%  
    建模任务     CmWeY$Jb  
    _f7 9wx\B  
    "-E\[@/  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 =?5]()'*n  
    FBG4pb9=~  
     b35fs]}u-6  
    Qry@ s5  
    图层矩阵解算器  > ^O7  
    tb 5`cube  
     mwO6g~@ `  
    qRu~$K  
    qfX6TV5J}!  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 mupT<_Y  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 xPdG*OcX!  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 i[i4h"$0  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 }czrj%6  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     XjBW9a  
    1Te %F+7  
    更多的信息： n5|fHk^s  
    hy9\57_#  
    总结-组件 #j;^\rSv-  
    BqEI(c 6  
    _OYasJUMG  
     D2 #ZpFp"h  
    ??5Q)Erm1  
    两条光谱线的可视化 Q(G#W+r  
    }ZYd4h|g\z  
     ^ "E^zHM(  
    精细vs.涂层反射率 -+-?w|}qV  
    +tB=OwU%0  
    rD tY[  
    }f%}v  
    精细度vs.涂层反射率 C-xr"]#]  
    *9 {PEx  
    O}gV`q;  
    内部谐振增强     &{5,:%PXw  
    5#6|j?_a  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 t6rRU~;}  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 0^ _uV9r  
    0J*??g-n  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 t[HE6ea  
    >\R+9p:o  
    VirtualLab Fusion技术 I]|Pq  
    v@sIHb  
      OHN_  
     
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