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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 !`69.v  
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                               L*@`i ]jl  
    /x VHd  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 &i#$ia r  
    LUOjaX  
    建模任务     (jc@8@Wo.  
    lZFu|(  
    ] l,BUf-O  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 SSK}'LQ  
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    c[dSO(=  
    图层矩阵解算器 : 4ryi&Y  
    ~Y 6'sM|  
     x/|W;8g4  
    18&"j 8'm  
    bJ d| mm/v  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 AdX))xgl  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 z@*E=B1L  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 r- 8Awa  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Sj+H{xJi  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     wu <0or2  
    o`T.Zaik,  
    更多的信息： s~M4. 06P  
    $?= $F  
    总结-组件 *?)MJ@  
    uD\R3cY  
    *x36;6~W;  
     |9* Rnm_  
    u$ts>Q;5  
    两条光谱线的可视化 -hd  
    g~lv/.CnA+  
     V!}I$JiJ  
    精细vs.涂层反射率 r,5e/X  
    ,=/9Ld2w9  
    7?.uAiM'zT  
    {X!vb  
    精细度vs.涂层反射率 AHf 9H?  
    _3/u#'m0  
    2/-m-5A  
    内部谐振增强     xIdb9hm<  
    G[64qhTC  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 xUJ(tG3  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 .K C* (}-  
    /[R=-s ;  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 0s n$QmW:  
    D  T5d]MU  
    VirtualLab Fusion技术 V@'Xj .ze  
    >a;a8EA<O  
     YPK@BmAdE  
     
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