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摘要 !
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J"Fp), Qm=iCZ|E^! Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 hzU(XW ^KnK
\ 建模任务 5^R?+<rd ef)zf+o
a6Joa&`dv 具有高反射(HR)涂层的标准具 t-5Y,}j c%bzrYQvA;
n @,. cRuN; 图层矩阵解算器 w0+X;aId B=$O4nW_b
O;5lF Y%?*Lj| =LODX29 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 c&x1aF "B 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 [[w | 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 NuOxEyC 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 U82mO+} 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 )0]U"Nf ho #vhN$H :&q 更多的信息: QxN1N^a0 Fi;H 总结-组件 /%s:aO H9PnJr8 \
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,Si{]y hF$qH^-c*A 两条光谱线的可视化 N>,`TsUwW pkae91
Lr5{c5M 精细vs.涂层反射率 W&:0J 0?(uqjD:
<9piKtb|L T1*.3_wtP 精细度vs.涂层反射率 wwywiFj zA8@'`Id
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{K 内部谐振增强 K5|~iW' )XGz#C_P 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 1+WVh7gF 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 jU7[z$GX
|/^S%t6* 注意: 传输值取自艾里图案的中心 )dqNN tS (3lA0e`Y VirtualLab Fusion技术 ]wdE
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