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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 =9i:R!,W  
    r,2x?Qi  
                               N12K*P[!  
    Q6_!I42Y`  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ~kS~v  
    Sl:Qq!  
    建模任务     3VCyq7 B^  
    }pu2/44=W  
    )U>q><  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 m qPWCFP  
    W6K]jIQ  
     6G/)q8'G  
    pHsp]a  
    图层矩阵解算器 |5V#&e\ES  
    +&O[}%W  
     "}\z7^.W>  
    YCeE?S1gk3  
    +@cf@}W6QC  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 [m|\N  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hDl& KE  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Al$"k[-Uin  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 *;m5^i<,;S  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     e3F)FTG&  
    |w>"oaLN|Q  
    更多的信息： JR$Dp&]I  
    *Y9"-C+  
    总结-组件 .',ikez  
    qX0IHe  
    \qUmdN{FU  
     ,`P,))  
    S@Yb)">ZQ  
    两条光谱线的可视化 _R8)%<E  
    *VIM!/YW  
     :QUZ7^u  
    精细vs.涂层反射率 ~Msee+ZZ :  
    =k2+VI  
    ]0 ouJY  
    UrH^T;#  
    精细度vs.涂层反射率 HzQ6KYAMq  
    0"#tK4  
    )!|K3%9  
    内部谐振增强     Z!G;q}zZ!  
    $*xnq%A  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 RT)0I;  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 h[C!cX  
    ^-4mZXAy1|  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 +m:U9K(\h  
    . 2.$Rq  
    VirtualLab Fusion技术 ?j ?{} Z  
    !g=,O6  
     f|Z3VS0x  
     
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