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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 30#s aGV  
    TOB-aAO  
                               yiXSYD  
    |^"1{7)  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ICx#{q@f,  
    eCU:Q  
    建模任务     ifMRryN4  
    S"bg9o  
    o4F2%0gJ  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 &ZlVWK~v  
    l|JE#  
     NqazpB*  
    u^ +7hkk  
    图层矩阵解算器 DZ'P@f)]  
    Ha0M)0Anv  
     S}m)OmrmA  
    taHJ ub  
    PB\(=  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Q0`wt.}V2  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ;40/yl3r3[  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 D[[|")Fn  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 H7&8\ FNa  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     0y'H~(  
    \R9(x]nZ%  
    更多的信息： ~rqCN,=d  
    jP$a_hW  
    总结-组件 1Ti f{i,B  
    G#q@v(_b  
     L2[($l  
     YNyk1cE  
    I#Y22&G1  
    两条光谱线的可视化 hP%M?MKC  
    ?|\ER#z  
     W dK #ZOR  
    精细vs.涂层反射率 Tj` ,Z5vy  
    &v/dj@   
    lBLARz&c#  
    k<nZ+! M  
    精细度vs.涂层反射率 ~|D Ut   
    A7Cm5>Y_S  
    `iFmrC<  
    内部谐振增强     Fh&G;aEq  
    y4 #>X  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z!a =dnwHz  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 1APe=tJ  
    $D~0~gn~  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 >W=,j)MA  
    DZ 3wCLQtK  
    VirtualLab Fusion技术 13$%,q)  
    I;,77PxD  
     *k7+/bU~~  
     
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