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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 xe.f]a  
    PxWH)4  
                               @qWClr{`  
    FKe/xz  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 gQ{<2u  
    2w~Vb0  
    建模任务     DP*$@5  
    .;U?%t_7  
    5yJ~ q  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 'F*OlZ!BWy  
    bF;|0X$ x  
     ",5=LW&,  
    SN7_^F  
    图层矩阵解算器 EronNtu8i  
    'UGgY3  
     8t7r^[T  
    -IDhK}C&T  
    N!tNRMTi  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 {~#01p5  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ?!c7Zx,(  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 8MU7|9 Q  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 6/'X$}X  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     7bVKH[  
    1} _<qk9  
    更多的信息： ;_ 1Rk&o!  
    }lq$Fi/  
    总结-组件  "}[ ]R  
    /L]@k`.q@  
    P $r!u%W  
     ljg6uz1v %  
    #!m^EqF1_  
    两条光谱线的可视化 E3x<o<v  
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     <I?f=[  
    精细vs.涂层反射率 fkk9&QB%(  
    od!s5f!  
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    R$it`0D4o  
    精细度vs.涂层反射率 or)fx/%h  
    h9nh9a(2  
    0G'v4Vj0'  
    内部谐振增强     ]N1,"W}  
    wSALK)T1{  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 QdD@[  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 K)\D,5X^  
    !_dW  `  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 oChf&W 8u  
    AO7X-,  
    VirtualLab Fusion技术 zR=g<e1xe  
    IpKI6[2{`f  
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