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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 yv@td+-"D  
    _|!FhZ  
                               V@QWJZ"  
    zuq7 x7  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 xzqgem`[\  
    :j}]nS  
    建模任务     yt+"\d  
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    / p_mFA]@  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 phT|w H  
    `pHlGbrW  
     2Op\`Ht &  
    Hkcr+BQ  
    图层矩阵解算器 }3"FQ/6C  
    RW#&f*  
     OJkiTs{  
    ranLHm.nB  
    Guc~] B  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 rM sd)  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 5iG+O4n%  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 xS4B"/  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 h;^H*Y&`  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     )<.BN p  
    qB`-[A9HPe  
    更多的信息： {Q&@vbw'  
    qMk"i@"  
    总结-组件 m_ |:tU(t  
    dKOW5\H'  
    .3{PgrZ  
     ]/o0p  
    u9t@%H)lZ  
    两条光谱线的可视化 !zhg3B# p  
    |Ew~3-u!  
     $*%ipD}f  
    精细vs.涂层反射率 M!{;:m28X!  
    C&&*6E5  
    b"au9:F4@7  
    (-RZ|VdYg  
    精细度vs.涂层反射率 zfAkWSY  
    qhKW6v  
    i.|zKjF'  
    内部谐振增强     jLANv{"  
    /~,|zz  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 =~OH.=9\  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 }mz6z<pJ_  
    QbF!V%+a's  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 i|z=q  
    N W/RQ(  
    VirtualLab Fusion技术 *u2pk>y)  
    ;3nR_6\  
     qdlz#-B  
     
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