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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 <Wn~s=  
    !db=Iz5)  
                               w <r*&  
    E`)e ;^  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Xf4QLw/r  
    J67 thTGFq  
    建模任务     %J*1F  
    1)z'-dQ-5$  
    | .jWz.c  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 n {?Du  
    L4po1  
     {"p ~M7  
    ,RPb <3 B  
    图层矩阵解算器 Fp.eucRxP  
    EXSH{P O+  
     IVxJN(N^  
    If&))$7u  
    zA#pgX[#  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *).  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 u>'0Xo9R  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 $ .tT  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 zZ[kU1Fyv  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     D[>:az `  
    %DttkrhL  
    更多的信息： Hcf"u&%  
    y;az&T  
    总结-组件 ) gl{ x  
    RPX.?;":  
    R~=c1bpdq  
     Mc?_2<u-  
    /[/L%;a'p  
    两条光谱线的可视化 dw6ysOR@  
    ,zjz "7'  
     gbdzS6XW~  
    精细vs.涂层反射率 PcsYy]Q/  
    u&*[   
    R*6TS"aL  
    5%TSUU+<I  
    精细度vs.涂层反射率 N1Y uLG:  
    5B~]%_gZr  
    HL{aqT2  
    内部谐振增强     DlzL(p@r  
    Q%6zr9  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 W(62.3d~}?  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 @Mya|zb  
    "C}<umJ'  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 3XY"s"  
    U>n[R/~]  
    VirtualLab Fusion技术 7b~uU@L`  
    X[/7vSqZ@w  
     ;Q t%>Uo8  
     
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