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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 FI@2K M  
    E\!:MCL  
                          
    y$@d%U*rW^  
    ]RHR>=;  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 q|m8G  
    wP3PI.g-g  
    建模任务
    0@a6r=`el  
    9/C0DDb  
    ]*a)'k_@[  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 5r/QPJ<h  
    U,/NygB~  
    A?Jm59{w  
    L;.6j*E*  
    图层矩阵解算器 D[{p~x^  
    |E @Gsw  
    p}uT qI  
    Y1AbG1n|  
    b><jhbv  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 @t`| w.]ml  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 z.23i^Q  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 @%J?[PG  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 9m 56oT'U{  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    IBl}.o&]B#  
    @Zd+XWFw  
    更多的信息: ;}IF'ANA  
    77/y{#Sk  
    总结-组件 yAEOn/.~  
    | (P%<  
    sBp|Lo  
    C|"T!1MlY4  
    `g% ]z@'+?  
    两条光谱线的可视化 H^"BK-`hs  
    h./cs'&  
    Cq1t[a  
    精细vs.涂层反射率 eG # (9  
    Sw#Ez-X  
    &nn!{S^  
    _5M!ec  
    精细度vs.涂层反射率 ;3\F b3d  
    &dvJg  
    `ZN@L<I6  
    内部谐振增强
    R#tz"T@  
    mL+}Ka  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 =pWpHbB.  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 P;KbS~ SlC  
    P,h@F+OZN  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 3]'=s>UO>^  
    ?>q=Nf^Q.  
    VirtualLab Fusion技术 8!>uC&bE8  
    2bX!-h  
    mUr@w*kq|p  
     
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