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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 _)~|Z~  
    X^C $|:  
                               W$` WkR  
    ltHuN;C\  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 =nCV. Wf  
    ~]BR(n  
    建模任务     crJNTEz  
    V/)3d  
    xzRC %  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 eTt{wn;6  
    nTsPX Tat  
     R=W$3Ue~,  
    E8o9ufj3  
    图层矩阵解算器 s%?<:9  
    xG(:O@  
     K,*IfHi6[  
    x!onan  
    &< hk&B  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 !zxq9IhWR  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 /Wy9 ".  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 i k0w\*  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 "H{#ib_c_  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     DE?@8k  
    'v@1_HHW\  
    更多的信息： S1!_ IK$m  
    *gI9CVfQl  
    总结-组件 1'5 !")r  
    Z8pZm`g)T  
    'eoI~*}3WQ  
     h#8 {fr)6  
    tI2p-d9B  
    两条光谱线的可视化 sk. rJ  
    *c@]c~hY,  
     98WJ"f_ #  
    精细vs.涂层反射率 qj?I*peK)  
    a[gN+DX%L  
    OL[_2m*;9p  
    Rh7=,=u  
    精细度vs.涂层反射率 iainl@3Qj  
    sQT,@'"  
    {XYf"ONi  
    内部谐振增强     Vs[!WJ 7  
    !Jo.Un7  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 QLTE`t5w3'  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 c>Ljv('bj  
    SiJX5ydz  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 _d<\@Tkw  
    1'* {Vm M  
    VirtualLab Fusion技术 2qkC{klC^M  
    k?=V?JWY  
     P^*gk P  
     
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