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摘要 FI@2KM E\!:MCL
y$@d%U*rW^ ]RHR> =; Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 q|m8G wP3PI.g-g 建模任务 0@a6r=`el 9/C0DDb
]*a)'k_@[ 具有高反射(HR)涂层的标准具 5r/QPJ<h U,/NygB~
A?Jm59{w L;.6j*E* 图层矩阵解算器 D[{p~x^ |E@G sw
p}uTqI Y1AbG1n| b><jhbv 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 @t`|w.]ml 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 z.23i^Q 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 @%J?[PG 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 9m56oT'U{ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 IBl}.o&]B# @Zd+XWFw 更多的信息: ;}IF'ANA 77/y{#Sk 总结-组件 yAEOn/.~ |
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C|"T!1MlY4 `g%]z@'+? 两条光谱线的可视化 H^"BK-`hs h./cs'&
Cq1t[a 精细vs.涂层反射率 eG# (9 Sw#Ez-X
&nn!{S^ _5M!ec 精细度vs.涂层反射率 ;3\Fb3d &dvJg
`ZN@L<I6 内部谐振增强 R#tz"T@ mL+}Ka 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 =pWpHbB. 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 P;KbS~ SlC
P,h@F+OZN 注意: 传输值取自艾里图案的中心 3]'=s>UO>^ ?>q=Nf^ Q. VirtualLab Fusion技术 8!>uC&bE8 2bX!-h
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