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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 OP>rEUtj  
    C\#E1\d  
                               ]w ^9qS  
    I*8i=O@0T  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Y~@@{zP  
    's#"~<L^e  
    建模任务     l>p S23  
    O]&DDzo  
    Plpt7Pa_  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 B=?4; l7  
    VA{2a7]  
     w$%d"Jm#X  
    do0;"O0 (  
    图层矩阵解算器 }@JPvI E  
    P(B:tg  
     uXD?s3Wv  
    [AgS@^"sf5  
    /sHWJ?`&/,  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 IjJO;  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 kex4U6&OQB  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 x`:zC#  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 RE~:+.eB  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Reci:T(_  
    mhTi{t_fHM  
    更多的信息： HAa$ pGb  
    ~m4{GzB  
    总结-组件 %^1@c f?.  
    q=Cc2|Ve  
    m^hi}Am1  
     =^  
    s az<NT  
    两条光谱线的可视化 Td~CnCor  
    8bl&-F `  
     v 809/c*  
    精细vs.涂层反射率 9cV;W\ Tw  
    v8=7  
    a W1y0  
    `rt?n|*QF  
    精细度vs.涂层反射率 #Fp5>%*  
    w'uI~t4  
    c*iZ6j"iI  
    内部谐振增强     eAvOT$  
    )8ub1,C  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9UF^h{X  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 J QSp2b@'H  
    2|Of$oMc  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 oUXi 4lsSc  
    ~cHpA;x9<^  
    VirtualLab Fusion技术 ZcT%H*Ib]9  
    ?"23XKe  
     rK^Sn7U  
     
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