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摘要 Mz~D#6= l
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D"?fn<2 T7u%^xm Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 `Kr,>sEAM ^R
Fp8w( 建模任务 m6CI{Sa](l O7<]U_"I
b8SHg^} 具有高反射(HR)涂层的标准具 (l-ab2' K[r^'P5m
#[~pD:qqM 9"A`sGZ 图层矩阵解算器 &Ao+X=qw kB|B
~h85BF5 JYd 'Jp8bP gSUcx9f] 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ;he"ph=> 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 QpA/SmJ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 C3],n 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 J| bd)0 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 $#S&QHyEe Sf7\;^ 更多的信息: N@1+O,o FrYqaP 总结-组件 tlqiXh< \6<=$vD
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)V6Hl@v ;1.,Sn+zO 两条光谱线的可视化 }O^zl# G) 7;;
M#VE ]J 精细vs.涂层反射率 @EpIh& `-l6S
X{'q24\F |J}Mgb-4 精细度vs.涂层反射率
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a]/>ra5{ 内部谐振增强 qA$*YIlK 0F|AA"mMT 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Rh{zH~oZ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 @zz1hU
i9A+gtd 注意: 传输值取自艾里图案的中心 M|qteo dhr3,&+T2 VirtualLab Fusion技术 O0No'LVu s,n0jix@
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