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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 7AOjlC9R}  
    %Ob#GA+  
                               0c pI2  
    m^9[k,;K  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 "1-|ahW  
    hDP&~Mk  
    建模任务     K4H U 9!  
    HxH.=M8S_  
    Dd=iYM m7  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 `H^?jX>7  
    kY$vPHZpN  
     t$*V*gK{  
    ^T{ww=/v  
    图层矩阵解算器 1z#0CX}Y/H  
    TqZ&X| G  
     [h3y8O  
    3Mw2;.rk  
    cc$L56q  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ^EG@tB $<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 /F3bZ3F  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Bl >)GX\l  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 gmU0/z3&  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     1>$}N?u:T  
    kJOSGrg  
    更多的信息： Hy_}e"  
    !alO,P%>r  
    总结-组件 (I) e-1  
    V&j |St[  
    n*HRGJ  
     gOE3x^X*{  
    !OO{qw(*g  
    两条光谱线的可视化 =LsW\.T6  
    <]/z45?  
     mHnHB.OL  
    精细vs.涂层反射率 z;74(5?q  
    l$:.bwXXO  
    #hNp1y2  
    \k8|3Y~g  
    精细度vs.涂层反射率 rLy <3  
    |PI]v`[  
    +mr\AAFn  
    内部谐振增强     Ao%;!(\I%  
    \Jcj4  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 q,W6wM;,E  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 T\Zq/Z\  
    y'a(>s(  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 @ k`^Z5tN  
    'A|OVyH  
    VirtualLab Fusion技术 /j{`hi  
    X~H ~k1  
     RZV8{  
     
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