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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 w{u,YM(Q  
    *B \ @L  
                          
    uc}tTmB|  
    ?3qp?ea  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 8aC=k@YE  
    }_F:]lI*R  
    建模任务
    iz)r.TJ  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 K :kb&W  
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    O*bzp-6\  
    图层矩阵解算器 Ke3~o"IQ  
    ~wF3$H.@;  
    D(TG)X?  
    FCOa|IKsN  
    HG< z,gE 2  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?B$L'i[l  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hOkn@F.  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 l'M/et{:  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 $tI<MZ&Z  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    U$y wO4.  
    ==gL!e{  
    更多的信息: BlZB8KI~  
    @GGQ13Cj(  
    总结-组件 S8+l!$7   
    Hz[1c4)'F  
    9<iM2(IW{  
    ~l?c.CS d  
    %'=2Jy6h  
    两条光谱线的可视化 ssS"X@VZ \  
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    h-sO7M0E]  
    精细vs.涂层反射率 c0HPS9N\  
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    6J#R1.h  
    jJNl{nyq  
    精细度vs.涂层反射率 O!hp=`B,jf  
    akPd#mf  
    :8`$BbV  
    内部谐振增强
    t#8QyN  
    $aB`A$'hK  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 'p\&Mc_Gu  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 $T:;Kc W)  
    |pbetA4&  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 gdoaXw;Sy  
    gR gB= C{  
    VirtualLab Fusion技术 #@5VT* /7  
    GUD]sXSj  
    Gd`7Tf)'  
     
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