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摘要 i4n%EDQ -GkK[KCH
la"A$Tbu~ ek.WuOs Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Z!=Pc$? ;h(;( 建模任务 -L4G WJ~.- UC
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D``NQ`>A 具有高反射(HR)涂层的标准具 zl0:U2x7 mEc;-b
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I~5fz4Q 图层矩阵解算器 ^@5ui;JV [+cnx21{
x_iy;\s1 m+8b2H:V MHT,rqG 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 2Q'XB 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 { )GEgC 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 U.j\u>a 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 MfpWow-#{ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 m ?"%&| }ok
nB 更多的信息: F@(}=w^(A gwB>oi*OE 总结-组件 W;}u 2GH 1*,~ 1!>
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J]^gF| Nb9V/2c;V 两条光谱线的可视化 > FcA, 7LZb*+>
c:_i)": 精细vs.涂层反射率 "91Atb;hJ h/bYtE
?9okjLp1n f(MHU 精细度vs.涂层反射率 eHyuO)(xH1 GvtI-\h]
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}{ 内部谐振增强 ]}L1W`n -:p1gg& 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 1~u\]Zi=D 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Ty|c@X
]fS~N9B 注意: 传输值取自艾里图案的中心 ao5yW;^y )n[Mh!mn VirtualLab Fusion技术 wQS w&G LuQ
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