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摘要 sFK<:ka >U?Bka!
W1Qc1T8 ItADO'M Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 -(1\`g07 &J$5+"/;X 建模任务 Q=E@i9c9 09Y?!,
*a!!(cZZ 具有高反射(HR)涂层的标准具 dH|^\IQ RWFf-VA?
sv"mba.J Kdu\`c-lB 图层矩阵解算器 \F~Cbj+'Nu @88i/ Z_
Y)}%SP>, m7vxzC* 9
w1ONw8v 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 _~Vz+nT 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 :-La
$I> 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 tr8Cx~< 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ~aAJn IO 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 V(LFH9.Mp aG_ON0g 更多的信息: o'/C$E4W $3[\:+ 总结-组件 PMs_K"-K uz3pc;0LPY
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8Ql'(5|T 4UjE*Aq 两条光谱线的可视化 R2THL _`i%9Ad.4
ApYud?0b 精细vs.涂层反射率 qO{ ZZ* %aBJ+V F
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8vo 精细度vs.涂层反射率 ) Zo_6%
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S?\hbM]V-o 内部谐振增强 heZy
66 nDB 2>J 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 o Xi}@ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 U
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&4&33D 注意: 传输值取自艾里图案的中心 ^7bf8 ^` $?J+dB VirtualLab Fusion技术 [Cj)@OC t-*|Hfp*^
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