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摘要 IcL3.(!]l Ga f/0/|
`.aL>hf "b%hAdR Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 OdQ>h$ gZ 7^sU/3z 建模任务 ,- ]2s_ "W6nW
*p?b "{_a 具有高反射(HR)涂层的标准具 ==x3|^0y <6/XE@"
w GZ(bKyO {%D
"0* ^ 图层矩阵解算器 dQM# -t4* 4:r^6m%%
>|0yH9af P},S[GaZ VK`_Qc#B 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 uW>AH@Pij 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 -Kg@Sj/U}R 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 yD1*^~ loJ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 e::5|6x 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Y@eHp-[ 1@)]+* F*z 更多的信息: ]p'Qk CcY.8|HT 总结-组件 k`g+ vlIdi@V
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Iu>6 @mP@~ 两条光谱线的可视化 ,_NO[+5U #*S/Sh?Q
"]c:V4S#`A 精细vs.涂层反射率 CyG @ %c^]Rdl
""pJO 6bI DP^{T/G 精细度vs.涂层反射率 KXw
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mf}?z21vD 内部谐振增强 F!]UaEmV [-6j4D 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 P]Gsc 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 zN5i}U=|r
!LIWoa[ F. 注意: 传输值取自艾里图案的中心 YY7:WQS )W 57n)] VirtualLab Fusion技术 ULU
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