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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 t3)6R(JC  
    ~.T|n =  
                          
    $_S-R 3L\  
    9&sb,^4  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 . 1kB8&}  
    }O\IF}X  
    建模任务
    B $u/n  
    }m+Q(2  
    o;@~uU  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 'g%:/lwA  
    [FBS|v#T  
    2;gvo*k  
    &~*](Ma  
    图层矩阵解算器 j|KDgI<0  
    oJA_" xp  
    >6S7#)0T  
    lC($@sC%  
    8:0/Cj  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 7qqzL_d>  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 8i',~[  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 (_ G>dP_  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .57p4{  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    f#z:ILG=  
    yksnsHs}d  
    更多的信息: RJD{l+  
    /4T6Z[=s  
    总结-组件 '~Y@HRVL@|  
    BL&AZv/T  
    C:J frg`  
    #LR4%}mg  
    u\ _yjv#  
    两条光谱线的可视化 ]hV!lG1_  
    7<su8*?  
    >ZJ]yhbhK  
    精细vs.涂层反射率 Hs)Cf)8u  
    Nvd(?+c  
    w=#'8ZuU  
    'LMj.#A<g  
    精细度vs.涂层反射率 @_kF&~  
    p6%Vf  
    N>(w+h+  
    内部谐振增强
    ]In7%Qb  
    u\Cf@}5(  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 - VJx)g  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 jJIP $  
    {wC*61@1  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 IL|Q-e}Ol  
    S]fu M%  
    VirtualLab Fusion技术 H$Kc~#=  
    pl).U#7`  
    eN<L)a:J_  
     
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