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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 uCzii o`S  
    R9r+kj_  
                               vz`@x45K  
    N dR ]  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 W"hcaa,&  
    L>Jd7; =  
    建模任务     . p^xS6e{  
    S7n"3.k  
    SFjU0*B$  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Y?Vz(udD  
    GVd48*  
     EZ#gp^$  
    /N^~U&7  
    图层矩阵解算器 qeaA&(|5  
    }X$l\pm  
     Rt= X% [YL  
    K]N~~*`%`  
    e^e$mtI  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 9 Aivf+  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 5M?mYNQR/H  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 K5 vNhA  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 t 6u-G+}  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     HdQj?f3  
    @?2n]n6  
    更多的信息： )teFS %  
    t&c&KFK)I&  
    总结-组件 G%w_CMfH  
    ?ow'^X-  
    +cfziQ$'  
     3-Y=EH_0  
    &?a.mh/8[[  
    两条光谱线的可视化 0B3 Q Vbp'  
    W7!.#b(hU  
     wz@FrRP=  
    精细vs.涂层反射率 fuSq ={]  
    (5Ky6b9v  
    z Bf;fi  
    :|XCnK0  
    精细度vs.涂层反射率 =g0*MZ;"  
    N+>'J23d!  
    -h\@RC  
    内部谐振增强     7,_-XV2  
    w yD%x(  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 \8_V(lU   
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 /"0as_L<  
    {a4xF2  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 T8q[7Zn  
    w~v<v&  
    VirtualLab Fusion技术 $,`VUe{  
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     }=pOiILvD  
     
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