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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 IcL3.(!]l  
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    "b%hAdR  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 OdQ >h$ gZ  
    7^sU/3z  
    建模任务
    ,-  ]2s_  
    "W6 nW  
    *p?b"{_a  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ==x3|^0y  
    <6/XE@"   
    w GZ(bKyO  
    {%D "0*^  
    图层矩阵解算器 dQM# -t4*  
    4:r^6m%%  
    >|0yH9af  
    P},S[GaZ  
    VK`_ Qc#B  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 uW>AH@Pij  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 -Kg@Sj/U}R  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 yD1*^~loJ  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 e::5|6x  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    Y@eHp-[  
    1@)]+* F*z  
    更多的信息: ]p'Qk  
    CcY.8|HT  
    总结-组件 k`g+    
    vlIdi@V  
    <eN>X:_N  
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    两条光谱线的可视化 ,_NO[+5U  
    #*S/Sh?Q  
    "]c:V4S#`A  
    精细vs.涂层反射率 CyG@  
    %c^]Rdl  
    ""pJO 6bI  
    DP^{T/G  
    精细度vs.涂层反射率 KXw \N!  
    tB(Q-c  
    mf}?z21vD  
    内部谐振增强
    F!]UaEmV  
    [-6j4D  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 P]Gsc  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 zN5i}U=|r  
    !LIWoa[ F.  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 YY7:WQS  
    )W57n)]  
    VirtualLab Fusion技术 ULU ]k#  
    g?=B{V  
    GQF7]j/  
     
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