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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 VRuY8<E  
    N03)G2  
                               7jss3^.wA  
    dQX<X}  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 H =Y7#{}  
    qH#?, sK ^  
    建模任务     4R 9lA  
    *C/bf)w  
    &I8Q'  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 EW$.,%b1  
    <>=A6  
     G@Ha t  
    0;Lt  
    图层矩阵解算器 ZDMv8BP7  
    =ttvC"4?  
     5<Ly^Na:  
    6j*L]S c  
    <ttrd%VW  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 c[p>*FnP  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 K fM6(f:  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 K]~! =j)v  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 N*J!<vY"  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     MR=dQc  
    @1+gY4g  
    更多的信息： ;iol 2  
    .A(QqL>  
    总结-组件 C)x>/Qr~  
    $&fP%p  
    '?j[hhfB-  
     gu~JB  
    Ge'[AhA  
    两条光谱线的可视化 UY(pKe>  
    0m3:!#\  
     Ly\  `  
    精细vs.涂层反射率 }MUQO<=*  
    !hMD>B2Z  
    5 )A(q\  
    Eo\pNz#)  
    精细度vs.涂层反射率 V-1H(wRu  
    Z<P?P`  
    m`;dFL7"E  
    内部谐振增强     c0 I;8z`b  
    /nPNHO>U  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 DGc5Lol~  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 MNuBZnO  
    Z.^DJ9E<1  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 VVd9VGvh  
    =3~5I&  
    VirtualLab Fusion技术 +#;t.&\80N  
    Gy]ZYo(  
     W"{:|'/v  
     
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