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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 C"(_mW{@  
    /\nJ  
                          
    ,#=eu85 '  
    g~eJ YS,  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 *13g <#$  
    x-tm[x@;o  
    建模任务
    ShsJ_/C2  
    YcPKM@xo  
    9+W!k^VWq  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 $3lt{ %  
    p!C_:Z5i  
    SlR7h$r'  
    QziN]  
    图层矩阵解算器 jQO* oq}  
    (\T8!s{AO  
    4 fZY8  
    9zmD6G!}t  
    dBsRm{aS  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 :P HUsy  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ys:1Z\$P  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 Og_2k ~  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 *xEI Zx  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    !IfI-Q  
    9Ilfv  
    更多的信息: USlF+RY@3L  
    dl7Riw-J  
    总结-组件 ,w,ENU0~f  
    1'(_>S5CG  
    `i"$*4#<  
    38Bnf  
    ^vYVl{$bT  
    两条光谱线的可视化 EI[e+@J  
    Y:DNu9  
    Z&AHM &,yj  
    精细vs.涂层反射率 45]Ym{]  
    #|)JD@;Q  
    LsuAOB 8  
    >1#DPU(g  
    精细度vs.涂层反射率 p ~,a=  
    dt`9RB$  
    )->-~E}p9  
    内部谐振增强
    SS l8  
    @9 n #vs  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 <B|n<R<?  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 (O M?aW  
    *+_fP|cv  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 =;~%L  
    0X ] ekq  
    VirtualLab Fusion技术 V+4k!  
    Xq=!"E  
    F{a0X0ru~  
     
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