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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 3.^Tm+ C  
    CS<,qvLpL  
                               yd-Kg zm8n  
    &bO5+[  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 M((]> *g  
    !u;r<:g!  
    建模任务     DfJHH)Ry}  
    H ^<LnYZ  
    P b(XR+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 #~Z55 D_  
    Bh\>2]~@a  
     =gjq@N]lAW  
    m.K@g1G  
    图层矩阵解算器 =vaC?d3   
    >){"x(4`  
     A&:i$`m,  
    7Ib/Cm0d|  
    O0Vtvbj  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 j.FW*iX1C  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 *Ou)P9~-L  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 gPu0j4&-  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 }9qbF+b  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     1JIo,7  
    > (.V(]{3y  
    更多的信息： 0Ek + }`  
    3bGJ?hpp  
    总结-组件 qf7oG0  
    fuQb h  
    WjrUns  
     \ tK{!v+  
    >O:31Uk  
    两条光谱线的可视化 0xe!tA  
    W_##8[r(?  
     1gTW*vLM\  
    精细vs.涂层反射率 .|pyloL.  
     >Mzk;TM  
    opKk#40  
    9EE},D  
    精细度vs.涂层反射率 h5:>o  
    nlfu y[oX  
    |"Rl_+d7D  
    内部谐振增强     "XU M$:D  
    kYVn4Wq  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Wxi|(}  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 s L9,+  
    I\BcG(hlJ  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 NiCH$+c\  
    Gxtb@`f  
    VirtualLab Fusion技术 hSO(s  
    WP@IV;i  
     ]7d~,<3R  
     
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