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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 uSsP'qd  
    3VZ}5  
                               h5)4Z^n  
    AU$<W"%R  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 O*SJx.  
    2y"L&3W  
    建模任务     :$=]*54`T  
     .u3;  
    :Bh7mF-1  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 W{$J)iQ  
    >sm~te$5  
     *Uw"`l  
    PIHix{YR  
    图层矩阵解算器 sB@9L L]&|  
    ' Ig:-  
     v)j3YhY  
    7VIfRN{5n  
    Mdw"^x$7  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 YB+My~fw{l  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 g#iRkz%l)&  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 {1"kZL  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {_G_YL[  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     swz)gh-*  
    L9]y~[R:  
    更多的信息： yHo#v:>?p  
    \zJb}NbnT  
    总结-组件 dDbH+kqO  
    'F%h]4|1  
    3o2x&v  
     >:bXw#w]  
    I]z4}#+cX  
    两条光谱线的可视化 wii.0~p  
    hRQw]  
     #[&9~za'"m  
    精细vs.涂层反射率 m;J'y2h =$  
    e>UU/Ks  
    I{$TMkh[  
    J 1R5_b  
    精细度vs.涂层反射率 i'B$Xr  
    {(IHHA>  
    lMmP]{.>$  
    内部谐振增强     q%/\  
    % kaV ?j  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 *m8{yh  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 U UhlKV|5  
    |&MO us#v  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 J'%W_?wZ  
    L@S1C=-/  
    VirtualLab Fusion技术 o]eG+i6g]  
    gDjAnz#  
     k*r G^imX  
     
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