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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 0p-#f|ET  
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                               2"@Ft()]  
    \c{R <Hh  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 GR%{T'ZD`  
    u_.HPA  
    建模任务     !.EcP=S  
    {I{3(M#"  
    '[nmFCG%m*  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 XLm@etf  
    J A`H@qE  
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    (/K5!qh  
    图层矩阵解算器 @EHIp{0.  
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    ]>D)#  
    vZ@g@zB4o0  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *69c-` o  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 $n-Af0tK  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 xc;DdK=1X  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 zDDK  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     G2]^F Y  
    sqpGrW.  
    更多的信息： jWvtv ng  
    o.Oq__>$H  
    总结-组件 0|XKd24BN  
    LkBZlh_  
    FXahZW~Ol  
     5 y   
    F;u_7OM  
    两条光谱线的可视化 zA s&%OjG  
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     5ZK&fKeCF  
    精细vs.涂层反射率 A W HU'  
    )KY:m |Z  
    m'x;,xfY&F  
    |]W2EV ,b  
    精细度vs.涂层反射率 }ptMjT{9  
    .9h)bf+  
    uZIJoT  
    内部谐振增强     y-9+a7j  
    gnLn7?  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Jdj?I'XtY  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 zizk7<?L .  
    MBw-*K'?zB  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 {38\vX,I(w  
    y=aV=qD  
    VirtualLab Fusion技术 7I}P*%(f  
    n ~,t QV  
     %=Tr^{ i  
     
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