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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 1Z=;Uy\  
    vHoT@E#}'  
                               *YMXiYJR  
    %,h!: Ec^c  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 LH1BZ(5g  
    "4k"U1  
    建模任务     DB!uv[c  
     U5T^S  
    h6K!|-Gq.  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 U Ek |8yq  
    |2tSUOZ  
     &4a~6  
    *s 1D\/H  
    图层矩阵解算器 w?*'vF_2:#  
    Z z{[Al{  
     }C9VTJs|  
    @|JPE%T   
    n C\(+K1%  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 eU<]h>2  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 gogl[gHO  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 EVby 9!  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 lU >)n  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     K]lb8q}Z~  
    -sruxF  
    更多的信息： hPNQGVv  
    PkZf(=-X  
    总结-组件 exGhkt~  
    F=' jmiVJ  
    c=uBT K*  
     _oYA;O  
    m7bn%j-{$f  
    两条光谱线的可视化 VhJyWH%(  
    woC FN1W  
     10a=YG  
    精细vs.涂层反射率 W_Ws3L1;N  
    "oKj~:$  
    \ZmFH8=|f  
    Q7OnhGA  
    精细度vs.涂层反射率 QqT6P`0u  
    3:z4M9f  
    >*ha#PE  
    内部谐振增强     s0`]!7D<  
    _AsHw  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 w7.?zb!N  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 H@OrX  
    I=3B 5u  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 8z3I~yL_`+  
    a`GN@ 8  
    VirtualLab Fusion技术 D{3 x}5  
    UlLM<33_)  
     n8y,{|  
     
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