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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 rH.gF43O:  
    YmgCl!r@  
                          
    2f^-~dz  
    Z7KXWu+6`m  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 -bm,:Iy!  
    +sRP<as  
    建模任务
    7`dY1.rq  
    (A uPZ  
    Z%e|*GS{  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 BGzO!s*@j  
    /BKtw8  
    x6%#ws vS  
    Cg3ODfe  
    图层矩阵解算器 ~&KX-AC@  
    rVcBl4&1*g  
    q]XHa,"  
    -njQc:4W,-  
    M~p=#V1D  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 $rB6<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 i. M2E$b|  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 lQL:3U0DjU  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 R8 jovr  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ($S Lb6  
    1eD.:_t4  
    更多的信息: a q kix"J  
    CV3DMA  
    总结-组件 ="3,}qR  
    ^yJ:+m;6K  
    sOz sY7z3Z  
    VMF|iB  
    Q;wB{vr$  
    两条光谱线的可视化 !+KhFC&Py  
    f'_M0x  
    >)3VbO  
    精细vs.涂层反射率 + Kk@Q  
    ?ZX!7^7  
    !DcX8~~@  
    GO~k '  
    精细度vs.涂层反射率 B6%&gXr\  
    jI0]LD1k  
    @ae>b  
    内部谐振增强
    l"5y?jT  
    .[(P  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 &D*8l?A/1f  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Y&GuDLUF  
    m8AAp1=  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 4U{m7[  
    K'Spbn!nC  
    VirtualLab Fusion技术 EY$?^iS  
    61|B]ei/  
    $ S~%KsC  
     
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