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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 12rr:(#%s  
    8ztY_"]3p  
                               WRo#ZVt9$  
    f:HRrKf9  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 (2a~gQGD  
    Zo&U3b{Dy  
    建模任务     L;v#9^Fq  
    5SK.R;mn  
    A).wjd(_,  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 US Q{o  
    w1iQ#.4K_  
     `|]juc  
    >B3_P4pW9  
    图层矩阵解算器 sM-k,0z  
    wRWN]Vo  
     E7 7Au;TL  
    [zY9"B<3  
    wtRAq/  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 3:76x  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 DuCq16'0T  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 1o.]"~0:  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /)v X|qtIY  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     &}*[-z  
    PY) 74sa  
    更多的信息： )C <sj   
    hL&z"_`  
    总结-组件 7MBz&wE^f  
    U${dWxC  
    i5:fn@&  
     =G*<WcR  
    WJ/&Ag1  
    两条光谱线的可视化 ZfIQ Fh>  
    ek3/`]V:  
     J/ 4kS<c  
    精细vs.涂层反射率 a N_M  
    \GBv@  
    B(E+2;!QF  
    *n}{ )Ef  
    精细度vs.涂层反射率 tX6n~NJ$  
    ?|{P]i?)'  
    I)n%aTfo8  
    内部谐振增强     %}2 s74D*Z  
    w 8T#~Dc  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 'Kc;~a  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 -R| v&h%T  
    _PQQ&e)E  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 na>UFw7>*  
    !~PV\DQN  
    VirtualLab Fusion技术 _sx]`3/86  
    ~#O nA1)  
     A)'{G  
     
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