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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Yujiqi]J;  
    J @1!Oq>  
                               Ckuh:bs  
    6j]0R*B7`Q  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 f+,qNvBY/  
    _op}1   
    建模任务     )_S(UVI5  
    K=h9Ce  
    zE9W8:7  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 SsDmoEeB[  
    qiBVG H  
     @9RM9zK.q  
    6}Ci>_i4#  
    图层矩阵解算器 ,Uqs1#r  
    9 -a0:bP  
     R"t,xM  
    04P}-L,  
    s8t;.^1}  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 CxW>~O:  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 LYK"(C  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 29] G^f>  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 mL{6L?  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     P{>!5|k  
    aSQ#k;T[  
    更多的信息： G}raA%  
     |TH\`U  
    总结-组件 y/7\?qfTk  
    4p;`C  
    _8UU'1d  
     vr6w^&[c^  
    \V~eVf;~  
    两条光谱线的可视化 hD!7Cl Q  
    J<h $ wM  
     E4/Dr}4  
    精细vs.涂层反射率 Ioa$51&  
    3,qr-g|;jM  
    ~HsJUro  
    nMUw_7Y6  
    精细度vs.涂层反射率 iz PDd{[  
    d^ 8ZeC#  
    :tg)p+KB  
    内部谐振增强     c-6?2\]j@  
    X5$Iyis  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 '_FsvHQ  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 zHRplm+ i  
    Aw.qK9I  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 nmKp[-5  
    >0TxUc_va  
    VirtualLab Fusion技术 "]Xc`3SM  
    ;[OH(!  
     ?%[@Qb=2  
     
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