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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 3 39q%j$  
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    ls@]%pz.1d  
    p +i 1sY  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 27eG8  
    F]3Y,{/V  
    建模任务
    Q6Gw!!Z5EA  
    )Zr9 `3[  
    HK!ecQ^+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 u;_~{VJ-  
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    dDPQDIx  
    G>V6{g2Q  
    图层矩阵解算器 lxhb)]c ^>  
    Z4VFfGCTL  
    sW[-qPK<  
    &$ h~Q  
    Q7865  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 eQbHf  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 A8Ju+  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ]b4IO4T  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 6z9 '|;,4  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    P"w\hF  
    Rg?6eN  
    更多的信息: >pU9}2fpT  
    Op'a=4x]  
    总结-组件 nYyhQX~]B  
    #V!a<w4_  
    bx3Q$|M?  
    L^+rsxR  
    mOE *[S)  
    两条光谱线的可视化 EA& 3rI>U)  
    C%XO|sP  
    r`O Yq  
    精细vs.涂层反射率 ~K;QdV=YX  
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    BN_h3|)  
    sl]< A[jR  
    精细度vs.涂层反射率 V%s g+D2  
    L)sgW(@2  
    THYw_]K  
    内部谐振增强
    @5%&wC  
    vQMBJ&  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 g$nS6w|5H  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 rJ!cma  
    7j]v_2S`  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 @]@|H?  
    GShxPH{_j  
    VirtualLab Fusion技术 j_Szw w-  
    %**f`L%jN  
    HK@ij,px  
     
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